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第1页,共15页,星期日,2025年,2月5日二、实验原理1.数字逻辑门的逻辑电平。数字逻辑门的输出高低电平不是一个值,而是一个范围。数字逻辑门输入高低电平与输出高低电平的电压范围不同,即它的输入信号允许一定的容差,称为噪声容限。第2页,共15页,星期日,2025年,2月5日典型CMOS逻辑系列(HC系列)的规格如图所示。第3页,共15页,星期日,2025年,2月5日TTL逻辑系列(74LS、74S、74ALS、74AS、74F)的逻辑电平和噪声容限第4页,共15页,星期日,2025年,2月5日 门的输出电压VO随输入电压Vi而变化的曲线VO=f(Vi)称为门的电压传输特性。当负载电路所需驱动电流增大时,输出特性就不像理论值那样理想了,逻辑门的输出电压值与规定值之间有较明显的差异。当负载电路所需驱动电流过大时,逻辑门的输出电压值就会落在逻辑电平未定义区域。造成电路工作不正常。VTH=VDD/25V电源下CMOS非门电压传输特性VOUTVIN5.01.53.55.0VTH第5页,共15页,星期日,2025年,2月5日 实际电路能接多大的电阻负载是以逻辑门的输出电流的形式给出的:IOLMAX:输出低态且仍能维持输出电压不大于VOLMAX时,输出端能吸收的最大电流。IOHMAX:输出高态且仍能维持输出电压不小于VOHMIN时,输出端可提供的最大电流。第6页,共15页,星期日,2025年,2月5日2.扇出系数NO扇出系数NO是指门电路能驱动同类门的个数,它是衡量门电路负载能力的一个参数,CMOS门有两种不同性质的负载,即灌电流负载和拉电流负载,因此有两种扇出系数,即低电平扇出系数NOL和高电平扇出系数NOH。总扇出=Min[NOL,NOH]。第7页,共15页,星期日,2025年,2月5日3.速度影响TTL门电路工作速度的主要因素是电路内部管子的开关特性、电路结构及内部的各电阻阻数值。电阻数值越大,工作速度越低。管子的开关时间越长,门的工作速度越低。影响CMOS电路工作速度的主要因素在于电路的外部,即负载电容CL。CL是主要影响器件工作速度的原因,由CL所决定的影响CMOS门的传输延时约为几十纳秒。第8页,共15页,星期日,2025年,2月5日五、实验任务1.反相器电压传输特性的测试1)用示波器实测电源电压VDD【测试提示】: 用数字示波器测试直流信号电压值时,应选择参数平均值(Vavg),而不是峰峰值(Vpp)或幅值(Vamp),否则测到的只是直流的纹波。 示波器垂直因数不宜过大或过小。垂直因数过大可能影响测试精度,垂直因数过小当电压值变化时波形容易超出屏幕显示范围,不便观察。一般设置为(1V—2V)/div较为适宜。第9页,共15页,星期日,2025年,2月5日1.反相器电压传输特性的测试 2)采用逐点测试法,即调节RW,使Vi从VO向高电平变化,用示波器逐点测得Vi及VO,记入表3.3.2中,然后绘成曲线。第10页,共15页,星期日,2025年,2月5日实测电路连接方式电位器第11页,共15页,星期日,2025年,2月5日
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