第4章储能材料检测技术.pptxVIP

储能材料检测技术;4.1X射线衍射（XRD）;当一束单色X射线射到晶体时，会与晶体结构中的电子和电磁场发生相互作用。其中X射线被电子散射（相干散射）而引起的衍射效应将反映出晶体结构中原子的排列情况，可利用晶体的X射线衍射效应来确定晶体的原子结构。不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关。衍射方向取决于晶体的周期或晶胞的大小，衍射强度由晶胞中各个原子及其位置决定。;1;我们从实验测得的XRD图可以得到如下信息：

衍射峰位置2θ角，它与晶胞的大小、形状和位相有关；

衍射峰强度，它与原子在晶胞的位置、数量和种类有关。一般情况下，衍射峰的强度越高、越尖锐，表明材料的结晶性越好。;测试方法;测试样品晶粒大小的要求：

当晶粒尺寸小于100nm时，衍射仪就可能检测到衍射线的宽化，而对于尺寸较大的晶粒，衍射仪测到的就仅限于表面一层的晶粒，因此，要得到很好的衍射线，晶粒不宜过大也不宜过小，晶粒大小应控制在0.1~10μm。;块状样品的要求：测试面清洁平整、可装入直径23mm的中空样品架，垂直于测试面的厚度不超过10mm。;制备方法：一般采用特殊低背景样品架，将微粉或液体在其单晶Si片上均匀分散开即可。

非晶条带也是平铺在单晶Si片上，尽可能与其贴合。;定性判断结晶与取向;应用举例;扫描电