超声波检测第六章 .pptVIP

式中d---空心圆柱体内径，mm；D---空心圆柱体外径，mm；“＋”---外圆径向检测，内孔凸柱面反射；“－”---内孔径向检测，外圆凹柱面反射。2）调节：探头对准完好区的底面，调“增益”使底波B1达基准高，然后用“衰减器”增益△dB，这时灵敏度就调节好了。为了便于发现缺陷可再增益5～10dB作为扫查灵敏度。第29页，共73页，星期日，2025年，2月5日【例1】用2.5P20Z探头径向检测φ500mm的实心圆柱体锻件，CL=5900mm/s，问如何利用底波调节500mm/φ2灵敏度？解：由题意得1计算：500mm处底波与φ2mm平底孔回波分贝差为：2调节：将探头对准完好区圆柱底面，调“增益”使底波B1达基准60％高，然后用“衰减器”增益46dB，这时φ2灵敏度就调好了，必要时再增益6dB作为扫查灵敏度。第30页，共73页，星期日，2025年，2月5日【例2】用2.5P20Z探头径向检测φ1000mm，内径为φ100mm的空心圆柱体锻件，CL=5900mm/s，问如何利用内空回波调节450mm/φ2灵敏度？解：由题意得D=1000mm，d=100mm第31页，共73页，星期日，2025年，2月5日1计算：450mm处内孔回波与φ2mm平底孔回波分贝差为：2调节：将探头对准完好区的内孔衰减45dB，调“增益”使底波B1达基准60％高，然后用“衰减器”增益35dB，作为检测灵敏度，再增益6dB作为扫查灵敏度。第32页，共73页，星期日，2025年，2月5日（2）试块调节法1）单直探头检测：当锻件的厚度或由于几何形状所限或底面粗糙时，应利用具有人工反射体的试块来调节检测灵敏度，如CSⅠ试块和CSⅡ试块。调节时将探头对准标准试块的平底孔，调“增益”使平底孔回波达基准波高即可。值得注意的是，当试块表面形状、粗糙度与锻件不同时，要进行耦合补偿。当试块与工件的材质衰减相差较大时，还要考虑介质衰减补偿。【例1】用2.5P20Z探头检测厚度为50mm的小锻件，采用CSⅠ试块调节50/φ2灵敏度，试块与锻件表面耦合差3dB，问如何调节灵敏度？第33页，共73页，星期日，2025年，2月5日将探头对准CSⅠ试块中1号试块的φ2平底孔，距离为50mm，调“增益”使φ2平底孔回波达60％高，然后再用“衰减器”增益3dB，这时50/φ2灵敏度就调好了。【例2】用2.5P14Z探头检测底面粗糙厚度为400mm的锻件，问如何利用100/φ4平底孔试块调节400/φ2灵敏度？试块与工件表面耦合差6dB。解：计算：100/φ4平底孔与400/φ2平底孔回波分贝差：第34页，共73页，星期日，2025年，2月5日调节：将探头对准100/φ4平底孔，调节“增益”使φ4平底孔回波达基准高，然后用“衰减器”增益36＋6＝42Db,这时400/φ2灵敏度就调节好了。这时工件上400/φ2灵敏平底孔缺陷回波正好达基准波高。2）双晶直探头检测：采用双晶直探头检测时，要利用如图6.6所示CSⅡ标准试块的平底孔来调节检测灵敏度。先根据检测要求选择相应的平底孔试验块，并依次测试一组距离不同、直径相同的平底孔的回波，使其中最高回波达满刻度的80％，在此灵敏度条件下测出其他平底孔的回波最高点，并标在示波屏上，然后连接这些回波最高点，从而得到一条平底孔距离－波幅曲线，并以此作为检测灵敏度。第35页，共73页，星期日，2025年，2月5日6.1.5缺陷位置和大小的测定1.缺陷位置的测定在锻件检测中，主要采用纵波直探头检测，因此可根据示波屏上缺陷前沿所对应的水平刻度值τf和扫描速度1：n来确定缺陷在锻件中的位置。缺陷至探头的距离xf为xf＝nτf(8-3)2.缺陷大小的测定锻件检测中，对于尺寸小于声束截面的缺陷一般用当量法定量。若缺陷位于区域内时，常用当量计算法和当量AVG曲线法定量；若缺陷位于区域内，常用试块比较法定量，对于尺寸大于声束截面的缺陷，第36页，共73页，星期日，2025年，2月5日一般采用测长法，常用的测长法有6dB法和端点6dB法。必要时还可采用底波高度法来确定缺陷的相对大小。下面重点介绍当量计算法和6dB法在锻件探伤中的应用。(1)当量计算法是利用各种规则反射体的回波声压公式和实际探伤中测得的结果（缺陷的位置和波高）来计算缺陷的当量大小。当量计算法是目前锻件探伤中应用最广的一种定量方法。用定量计算法定量时，要考虑调节探伤灵敏度的基准。当用平底面和实心园柱体曲底面调节灵敏度时