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光电检测技术试卷及答案

考试时间：______分钟总分：______分姓名：______

一、选择题（每题2分，共20分。请选出每题最符合题意的选项）

1.下列哪种效应不是光电效应的类型？

A.外光电效应

B.内光电效应

C.光磁效应

D.光电导效应

2.在光电二极管的工作模式下，为减小暗电流和噪声，通常采用：

A.正向偏置

B.反向偏置

C.零偏置

D.交变偏置

3.光电倍增管的噪声主要来源于：

A.热噪声

B.散粒噪声

C.1/f噪声

D.化学噪声

4.下列哪种探测器对可见光和近红外光响应较好？

A.光电管

B.光电倍增管

C.光电二极管

D.热释电探测器

5.在光电检测系统中，调制解调技术的目的是：

A.提高探测器的响应度

B.增强信号的抗干扰能力

C.降低系统的信噪比

D.简化信号传输过程

6.下列哪种光源属于相干光源？

A.白炽灯

B.激光器

C.LED

D.热灯丝

7.F-P干涉仪的自由光谱范围与以下哪个因素成反比？

A.腔长

B.反射镜反射率

C.光源波长

D.干涉条纹数目

8.CCD图像传感器的核心单元是：

A.光电二极管

B.MOS电容

C.激光器

D.光阑

9.在光电检测系统中，信号调理电路的主要作用是：

A.产生探测信号

B.放大和滤波微弱的光电信号

C.选择合适的光源

D.测量光源强度

10.影响光电检测系统分辨率的主要因素之一是：

A.信号调理电路的带宽

B.光学系统的孔径大小

C.信号调理电路的噪声水平

D.探测器的响应时间

二、填空题（每空1分，共15分）

1.光电效应是指物质在受到照射时产生______或______现象的物理过程。

2.光电二极管的响应度定义为输出电信号（通常指光电流）与输入的光功率之比，单位通常是______。

3.光电探测器的主要噪声类型包括散粒噪声、热噪声、______噪声和1/f噪声。

4.光纤通信中常用的光源是______，常用的探测器是______。

5.常用的光电调制方式有______调制、______调制和声光调制等。

6.光电检测系统通常由______、______、信号调理电路和显示/记录系统等部分组成。

7.光栅衍射现象是基于光的______效应。

8.CMOS图像传感器具有______和______两大类结构。

9.在光电检测中，信噪比（SNR）是衡量系统性能的重要指标，其定义为信号功率与噪声功率之比，通常用______表示。

三、名词解释（每题3分，共12分）

1.量子效率

2.时间响应

3.光电放大器

4.相干光

四、简答题（每题5分，共20分）

1.简述内光电效应的工作原理。

2.与光电池相比，光电倍增管有哪些主要优点？

3.简述光电检测系统中信号调理电路的基本作用。

4.什么是夫琅禾费衍射？简述其形成原理。

五、计算题（每题7分，共21分）

1.已知某光电二极管的响应度为0.5A/W，探测到的光功率为2μW。假设该探测器仅存在散粒噪声，且温度为300K，暗电流为零。若电路的噪声带宽为1MHz，求探测器输出的信噪比（假设光信号为直流信号）。（电子电荷量e=1.6×10^-19C，玻尔兹曼常数k=1.38×10^-23J/K）

2.有一光栅，每毫米刻有500条线。现用波长为632.8nm的单色光垂直入射该光栅，求第一级和第二级衍射光的衍射角。

3.设计一个用于测量环境温度变化的基于热释电传感器的检测系统，简述其系统组成和工作原理。

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试卷答案

一、选择题

1.C

2.B

3.B

4.C

5.B

6.B

7.C

8.B

9.B

10.B

二、填空题

1.电流，电压

2.A/W(或(mA/W))

3.1/f

4.激光器，光探测器(或光电二极管/光电倍增管)

5.振幅，频率(或强度，相位)

6.光源，探测器

7.波动

8.CMOSActivePixelSensor(APS)，CCD(Charge-CoupledDevice)

9.分贝(dB)

三、名词解释

1.量子效率：指入射光子