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半导体器件失效模式汇编.pdf

半导体器件失效模式汇编.pdf

    半导体器件失效模式汇编

    一、半导体器件失效模式概述

    半导体器件在现代电子设备中起着核心作用，然而它们可能会出现

    各种失效模式，影响设备的正常运行。失效模式是指器件不能按照预

    期功能工作的表现形式。了解这些失效模式对于电子工程师进行故障

    排查、产品设计优化以及提高系统可靠性至关重要。

    二、常见的半导体器件失效模式

    （一）开路失效

    1、金属互连开路

    金属互连是连接半导体芯片内部各个元件的桥梁。当金属线出现断

    裂等情况时，就会导致开路。这可能是由于制造过程中的缺陷，比如

    光刻精度不够，

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