原创力文档芯片失效分析面试题及答案
一、选择题（每题3分，共30分）
1.以下哪种不属于芯片失效的物理原因？（）
A.电迁移
B.静电放电
C.设计缺陷
D.热应力
答案：C
2.芯片失效分析中常用的非破坏性检测方法是（）
A.开封（Decapsu
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