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材料分析测试技术试卷及答案

考试时间：______分钟总分：______分姓名：______

一、选择题（每题2分，共20分。请将正确选项的字母填在括号内）

1.下列哪种分析方法是利用原子核外电子发生能级跃迁来测定物质组成的？（）

A.X射线衍射（XRD）

B.原子吸收光谱（AAS）

C.扫描电子显微镜（SEM）

D.离子色谱

2.在材料分析测试中，选择测试方法时，首要考虑的因素是？（）

A.仪器价格高低

B.实验室现有设备

C.待测物质的性质和含量

D.分析人员的技术水平

3.X射线衍射（XRD）技术主要用来测定物质的？（）

A.元素组成

B.宏观形貌

C.晶体结构

D.化学状态

4.扫描电子显微镜（SEM）获取图像的主要方式是？（）

A.光的反射

B.碰撞电子的二次电子或背散射电子

C.X射线的衍射

D.离子的溅射

5.透射电子显微镜（TEM）与扫描电子显微镜（SEM）相比，其主要优势在于？（）

A.更高的分辨率

B.更容易操作

C.更宽的样品尺寸范围

D.更强的样品制备要求

6.能量色散X射线光谱（EDS/EDX）主要用于分析？（）

A.样品的晶体结构

B.样品的表面形貌

C.样品中元素的定性和定量

D.样品的化学键合状态

7.X射线光电子能谱（XPS）能够提供哪种信息？（）

A.样品的晶体取向

B.样品中的元素种类、含量及化学环境

C.样品的表面粗糙度

D.样品的密度

8.在进行原子吸收光谱（AAS）分析时，通常需要使用火焰或石墨炉等原子化器将样品中的待测元素转化为？（）

A.分子态

B.离子态

C.基态原子

D.化合物

9.为了获得清晰的透射电子显微镜（TEM）图像，样品必须制备成？（）

A.薄膜状

B.块状

C.纳米颗粒

D.多晶态

10.下列哪项不属于材料分析测试中的误差来源？（）

A.仪器误差

B.系统误差

C.随机误差

D.操作者经验

二、填空题（每空2分，共20分。请将答案填在横线上）

1.材料分析测试技术按照分析对象可分为分析、分析和分析。

2.X射线衍射（XRD）技术是基于原理，利用X射线与晶体相互作用产生的现象来研究物质的晶体结构。

3.扫描电子显微镜（SEM）的分辨率主要取决于和。

4.透射电子显微镜（TEM）的分辨率理论上可以达到，远高于SEM。

5.能量色散X射线光谱（EDS/EDX）是利用对样品进行激发，根据能量来识别和定量的。

6.X射线光电子能谱（XPS）分析的是样品表面范围内，原子最外层电子的信息。

7.原子吸收光谱（AAS）分析是基于原理，即待测元素的基态原子对特定波长辐射的吸收。

8.在材料测试样品制备过程中，对于硬质、脆性样品，常用的制备方法有和。

9.测量结果的精密度表示测量结果重复性的程度，常用和来衡量。

10.为了减少系统误差，可以采用或等方法进行校准或修正。

三、名词解释（每题3分，共15分）

1.分辨率

2.衍射峰

3.能量色散X射线分析（EDS）

4.化学态分析

5.精密度

四、简答题（每题5分，共25分）

1.简述X射线衍射（XRD）技术的基本原理。

2.与扫描电子显微镜（SEM）相比，透射电子显微镜（TEM）在样品制备和成像原理上有何主要区别？

3.简述X射线光电子能谱（XPS）用于元素定量分析的基本依据。

4.在进行材料分析测试时，为什么需要进行样品制备？请列举几种常见的样品制备方法。

5.什么是系统误差？它有哪些主要来源？如何减小系统误差的影响？

五、计算题（共15分）

1.某样品中含有两种元素A和B，用EDS进行定量分析。测得元素A的峰高计数为15000，元素B的峰高计数为5000。已知该探测器对所有元素的探测效率相同，且背景计数已扣除。试计算该样品中元素A和B的质量百分比（假设元素A的原子量约为27，元素B的原子量约为40，A和B在样品中的大致原子比接近其计数比）。（8分）

2.某同学用原子吸收光谱法测定某溶液中镁（Mg）的含量，进行了五次平行测定，结果分别为：10