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2025年中国通用电机自动测试系统数据监测报告
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TOC\o1-3\h\z\u21324摘要 3
7237一、通用电机自动测试系统的底层架构演化逻辑 5
74221.1从继电器控制到嵌入式系统的控制层跃迁机制 5
74471.2测试信号回路的阻抗匹配与采样精度的物理边界解析 7
57421.3自动化架构中反馈延迟对系统稳定性的影响模型 10
31800二、技术代际跃迁的路径依赖与突破节点 12
228732.1三代测试平台的技术范式比较：机电联动到AI驱动的决策闭环 12
191122.2基于摩尔定律衰减背景下测试算力供给的重构路
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