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相控阵检测概述
1.超声检测技术等级：NB/T47013.3-20156.3.2及附录N
相
控
阵
检
测
概
述
入射方向、扫查角度
多探头
多检测面多入射方向
多扫查角度检测
2.相控阵探头：单探头实现多扫查角度检测。
相
控
阵
检
测
概
述
波阵面
单晶片探头多晶片探头（同时激发）
2.相控阵探头：单探头实现多扫查角度检测。
相
控
阵
检
测
概
述
超声相控阵是超声探头晶片的组合，由多个压电晶片按一定的规律分布排
列，然后逐次按预先规定的延迟时间激发各个晶片，所有晶片发射的超声波形
成一个整体波阵面，能有效地控制发射超声束（波阵面）的形状和方向，能实
现超声波的波束扫描、偏转和聚焦。
3.延迟法则：
控制各晶片激发的时间，
相
控
阵
检
测
概
述
控制超声波的扫查角度及
聚焦深度。波阵面
4.斜入射角度的变化（斜楔块）
相
控
阵
检
测
概
述
L1
5.角度变化引起的
入射点漂移及能量变化
扇形覆盖区域中能量分布具有非均匀性
角度增益补偿功能:
相
控
阵
检
测
概
述
角度增益补偿曲线
6.扇形扫查角度步进
可选择角度步进范围0.1°-5°,角度步进间隔较大时，易造成缺陷的漏检
相
控
阵
检
测
概
述
步进5°扇扫图像步进1°扇扫图像步进0.1°扇扫图像
7.扇形扫查的声程差的问题:
相
控
阵
检
测
概
述
二次波检测
41.7
68.2
L2=L21+L22=65.17+30.48=95.65
8.焊缝坡口规格描述功能
相
控
阵
检
测
概
述
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