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CN120088256B 一种基于2d与3d复合成像的芯片封装质量检测优化方法 （安徽视创科技有限责任公司）.pdfVIP

CN120088256B 一种基于2d与3d复合成像的芯片封装质量检测优化方法 （安徽视创科技有限责任公司）.pdf

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    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利

    (10)授权公告号CN120088256B

    (45)授权公告日2025.07.11

    (21)申请号202510570226.3G06T7/73(2017.01)

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