《GB_T 4937.31-2023半导体器件机械和气候试验方法第31部分：塑封器件的易燃性（内部引起的）》专题研究报告.pptx

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一、GB/T4937.31-2023标准出台背景与行业需求：为何塑封半导体器件内部易燃性测试成未来5年安全管控核心？专家视角深度剖析

二、标准适用范围与核心定义解析：哪些塑封半导体器件需执行本试验？关键术语如何界定才能规避应用误区？

三、内部引起易燃性试验的原理与技术逻辑：从能量释放到燃烧蔓延，标准如何科学模拟器件实际失效场景？专家拆解核心机制

四、试验设备与耗材要求详解：满足标准的燃烧测试装置需具备哪些关键参数？耗材选择如何影响试验结果准确性？

五、试验样品制备与预处理规范：样品选取原则有哪些？预处理步骤为何对试验数据可靠性至关重要？操作要点全解析

六、试验流程与操作步骤

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