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2025年事业单位工勤技能-重庆-重庆无损探伤工一级（高级技师）历年参考题典型考点含答案解析

一、选择题

从给出的选项中选择正确答案（共50题）

1、下列材料中，通常采用磁粉检测的是？A.碳钢B.奥氏体不锈钢C.铝及铝合金D.焊接接头

A.碳钢

B.奥氏体不锈钢

C.铝及铝合金

D.焊接接头

【参考答案】A

【解析】磁粉检测适用于导电性良好的材料，如碳钢、低合金钢等。奥氏体不锈钢因表面易氧化且导电性差，通常采用渗透检测；铝及铝合金需用荧光磁粉检测；焊接接头需结合工艺评定，非通用检测对象。

2、射线检测，胶片黑度与曝光时间的正确关系是？A.时间越长黑度越高B.时间与黑度无关C.时间越长黑度越低D.时间与黑度成反比

A.时间越长黑度越高

B.时间与黑度无关

C.时间越长黑度越低D时间与黑度成反比

【参考答案】C

【解析】射线检测中，胶片黑度与曝光时间呈正相关，但长时间曝光会导致胶片饱和，黑度反而降低。选项D表述错误，正确关系应为时间过长导致黑度下降。

3、超声检测中，缺陷反射波幅值最高的缺陷类型是？A.裂纹B.气孔C.夹渣D.未熔合

A.裂纹

B.气孔

C.夹渣

D.未熔合

【参考答案】A

【解析】裂纹因其尖锐边缘会产生强烈反射，波幅值最高；气孔因内部反射导致信号分散，夹渣和未熔合反射较弱。此题考察缺陷反射特性与波幅值的对应关系。

4、无损探伤人员年度再注册需满足的条件不包括？A.无重大责任事故B.培训学时≥40小时C.检测报告合格率≥95%D.年龄≤60周岁

A.无重大责任事故

B.培训学时≥40小时

C.检测报告合格率≥95%

D.年龄≤60周岁

【参考答案】D

【解析】《无损检测人员资格认证规则》规定再注册年龄无上限，但需通过继续教育考核。选项D不符合实际要求。

5、射线检测中，焦距过大会导致？A.灵敏度下降B.对比度降低C.像质下降D.检测速度提升

A.灵敏度下降

B.对比度降低

C.像质下降

D.检测速度提升

【参考答案】B

【解析】焦距过大会导致射线发散，使胶片感光不均匀，对比度降低。灵敏度与焦距无直接关系，检测速度与焦距无关。

6、磁粉检测中，磁化方向与磁场方向的关系是？A.平行B.垂直C.任意角度D.无关

A.平行

B.垂直

C.任意角度

D.无关

【参考答案】A

【解析】磁化方向需与磁场方向平行，以形成闭合磁路，否则无法有效检测表面及近表面缺陷。垂直方向会导致磁化不足。

7、UT检测中，当缺陷反射波与基准波幅值比≥4时，判定为？A.未探伤B.合格C.缺陷D.不可见

A.未探伤B合格

C.缺陷

D.不可见

【参考答案】C

【解析】缺陷反射波与基准波幅值比≥4时，判定为明显缺陷。合格标准通常为≤3.5。选项D表述不严谨。

8、射线检测中，像质指标包括？A.清晰度B.对比度C.灵敏度D.焦距

A.清晰度

B.对比度

C.灵敏度

D.焦距

【参考答案】A

【解析】像质指标为清晰度和对比度，灵敏度属于检测能力指标，焦距影响成像质量但非像质直接参数。

9、UT检测中，当试块厚度为20mm时，推荐使用的晶片尺寸是？A.5mm×5mmB.10mm×10mmC.15mm×15mmD.20mm×20mm

A.5mm×5mm

B.10mm×10mm

C.15mm×15mm

D.20mm×20mm

【参考答案】B

【解析】根据JB/T6061标准，20mm试块推荐使用10mm晶片，晶片尺寸与试块厚度成1:2比例关系。选项D晶片过大导致灵敏度不足。

10、根据GB/T3323-2020标准，射线检测中γ射线的能量范围是？

A.50-150kV

B.0.1-3MeV

C.10-30kV

D.100-300kV

【参考答案】B

【解析】γ射线能量范围在0.1-3MeV，适用于大型结构检测。选项A为X射线能量范围，C和D不符合标准要求。

11、磁粉检测适用于以下哪种材料的表面裂纹检测

A.铝合金

B.不锈钢

C.铸铁

D.铜合金

【参考答案】C

【解析】铸铁属于磁性材料，磁粉检测可有效检测其表面裂纹。铝合金（A）和铜合金（D）为非磁性材料，不锈钢（B）部分区域可能适用但非最佳选择。

12、超声波检测中，当缺陷位于探头与工件表面之间时应采用哪种检测模式？

A.穿透法

B.反射法

C.衍射法

D.折射法

【参考答案】B

【解析】反射法用于检测工件内部缺陷回波，缺陷位于探头与表面之间时，声波经表面反射后仍能接收回波信号。穿透法（A）适用于表面检测，C和D为干扰选项。

13、根据ISO5817标准，焊接接头中未熔合属于哪种缺陷类型？

A.A类（表面缺陷）

B.B类（内部缺陷）

C.C类（严重缺陷）

D.D类（特殊缺陷）

【参考答案】C

【解析】未熔