GB/T 24468-2025半导体设备可靠性、可用性和维修性(RAM)测量方法.pdf

ICS17.040.30

CCSL85

中华人民共和国国家标准

/—

GBT244682025

代替/—

GBT244682009

、

半导体设备可靠性可用性和

维修性()测量方法

RAM

Testmethodforsemiconductoreuimentreliabilit,

qpy

()

availabilitandmaintainabilitRAM

yy

2025-10-05发布2026-05-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

/—

GBT244682025

目次

前言…………………………Ⅲ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4缩略语……………………4

5总则………………………4

6设备所经历时间的分类…………………4

6.1概述…………………4

6.2生产时间……………5

6.3待机时间……………6

6.4工程时间……………6

6.5计划停机时间………………………6

6.6非计划停机时间……………………7

6.7非计划时间…………………………9

7RAM指标的计算………………………9

7.1概述…………………9

7.2设备可靠性…………………