第八章集成电路的测试与可测性设计.pptVIP

对正常的逻辑输出没有影响，但如果这个桥接发生在一个或门上，则逻辑关系将发生变化，此时逻辑是：outl·out2+outl·out2+c=a·b+c不再是三输入或的关系。因此，“线与”的桥接结果对与门和与非门不改变逻辑关系，对或门和或非门将改变其逻辑关系。同样的原理，输出桥接的结果是“线或”时，对或门和或非门的逻辑不产生影响，但对与门和与非门逻辑将改变逻辑关系。如果输出桥接对应的是非相关输入桥接(即桥接后的信号不是送到同一个逻辑部件的输入的情况)，则不论是“线与”还是“线或”，都将对逻辑函数发生影响。第29页，共52页，星期日，2025年，2月5日(2)输入、输出桥接因为非相关输入、输出桥接的情况与上面所介绍的输入桥接情况相似，因此，在这里将只讨论相关输入、输出的桥接所导致的错误逻辑。下图给出了一个典型组合逻辑电路由于输入、输出桥接而导致的逻辑的变化。图中打×的位置指出了发生桥接的信号线连接。(a)图是一个典型的组合逻辑；(b)图表示在电路中的A信号线与OUT信号线发生了短接；(c)图则说明了当桥接是“线与”的逻辑关系时所对应的逻辑结构；(d)图是当桥接为“线或”逻辑关系时所对应的逻辑结构。第30页，共52页，星期日，2025年，2月5日桥接故障第31页，共52页，星期日，2025年，2月5日由以上的分析可知，输入桥接改变了电路的逻辑关系，输入、输出桥接则从根本上改变了逻辑结构和电路性质。除了逻辑关系的改变以外，桥接对电路的性能也将产生影响，例如，对CMOS逻辑，原本不存在的直流通路，但因为线连接而产生通路，出现静态电流。原本无比电路也会因为不应有的连接而变为有比电路。桥接故障的复杂性和它的不可预测性，使得这种故障的分析变得十分复杂。通过测试我们可以发现逻辑错误，但对于一个大的逻辑系统，这个逻辑错误的定位却是极其困难。第32页，共52页，星期日，2025年，2月5日特别需要指出的是，桥接并不仅仅是由于两条金属连条而产生的，它和工艺加工过程密切相关。它可能是连条造成的，也可能是二氧化硅上的针孔造成的，还可能是电路中器件的失效造成的。所以，在分析这类故障时首先要缩小分析范围。第33页，共52页，星期日，2025年，2月5日测试矢量生成为了测试一个电路中某部分的故障，设计者所设计的测试向量，一定要能使给出的输出区别于没有故障时的输出。如一些故障能被一组输入的测试向量检查出来，我们就称这些故障被这组测试向量所覆盖。被一个测试向量序列所覆盖的故障数占电路中所有可能的故障数的比率就叫做故障覆盖率。当然我们希望设计出来的测试向量序列能达到或接近100%的故障覆盖率。如果用人工生成测试序列是非常繁琐的，幸好现在有很多CAD系统可以自动完成这项工作。第34页，共52页，星期日，2025年，2月5日一个良好的易测试逻辑应该具备以下几个特点：（1）容易产生测试矢量（2）尽量小的测试矢量集（3）容易实现故障定位（4）附加电路尽可能少（5）附加电路引出线尽可能少测试矢量是一组测试码，它包含了测试输入和应有的测试输出，其中，测试输入是加到电路原始输入端的激励信号，测试输出是用于比对实测结果的输出信息。第35页，共52页，星期日，2025年，2月5日根据待测节点的置位要求，以及将假设的故障传播到输出所应给出的信号要求，产生的测试信号就是所谓的测试矢量。生成测试矢量包括3个环节：①为了能够反映在电路内部节点所存在的故障，必须对该节点设置正常逻辑值，设置的正常逻辑值应为假设的故障值的非量。这样，如果在原始输出端测到设置的正常逻辑值的效应，则表明该节点没有故障，反之，如果测到的是节点故障值的效应，则表明该节点确实存在假设的故障状态。这里的效应概念是考虑到信号在传播的过程中会被倒相，它不一定是故障或正常逻辑值的原量。第36页，共52页，星期日，2025年，2月5日②为了能够将故障效应传播到某个原始输出，则沿着故障传播路径的所有逻辑门必须被选通，也就是使它们处于开放状态，这被称为敏化。具体的说就是沿着故障传播路径的所有的与门和与非门的非故障信号端必须设置为1状态，所有的或门和或非门的非故障信号端必须设置为0。③根据反映故障和传播故障的要求而设置的节点信号值必须对应到原始输入端的信号。下图是一个分析测试矢量生成过程的例子，这是一个简单的组合逻辑结构，我们通过它讨论有关测试生成的问题。第37页，共52页，星期日，2025年，2月5日第1页，共52页，星期日，2025年，2月5日第一部分理论