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2025年大学《精密仪器-精密仪器实验技术》考试参考题库及答案解析

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一、选择题

1.精密仪器实验中，为了减少环境温度对测量结果的影响，通常采取的措施是（）

A.将仪器放置在阳光直射的地方

B.在实验室内保持温度恒定

C.使用隔热材料包裹仪器

D.频繁开关实验室的门窗

答案：B

解析：温度波动是精密仪器实验中常见的误差来源之一。为了减少温度对测量结果的影响，最佳的方法是在实验室内保持温度恒定。这样可以确保实验条件的稳定性，从而提高测量结果的准确性。将仪器放置在阳光直射的地方会导致温度变化加剧，使用隔热材料包裹仪器虽然可以减少外界温度的影响，但无法完全消除实验室内温度波动的影响，频繁开关实验室的门窗会导致室内温度不稳定，进一步增加误差。

2.在精密仪器实验中，使用精密量具进行测量时，为了提高测量精度，通常需要进行（）

A.单次测量

B.多次测量取平均值

C.只测量最大值和最小值

D.不进行任何测量

答案：B

解析：在精密仪器实验中，为了提高测量精度，通常需要进行多次测量并取平均值。这样可以有效减小随机误差的影响，从而得到更准确的测量结果。单次测量容易受到各种随机因素的影响，导致测量结果不准确。只测量最大值和最小值并不能全面反映测量对象的实际情况。不进行任何测量则完全没有测量结果，显然是不符合实验要求的。

3.精密仪器实验中，使用光学仪器进行测量时，为了消除视差，应该（）

A.调整眼睛的位置

B.使用放大镜观察

C.调整仪器的焦距

D.改变光源的强度

答案：A

解析：视差是指观察者眼睛位置变化时，测量读数也随之变化的现象。在精密仪器实验中，使用光学仪器进行测量时，为了消除视差，应该调整眼睛的位置，使眼睛与测量刻度线保持水平，这样可以确保测量读数的稳定性。使用放大镜观察可以提高测量精度，但并不能消除视差。调整仪器的焦距可以改善成像质量，但并不能直接消除视差。改变光源的强度可以改善观察条件，但与消除视差无关。

4.精密仪器实验中，使用电学仪器进行测量时，为了减少测量误差，通常需要（）

A.使用高内阻电压表

B.使用低内阻电流表

C.短路测量电路

D.长时间测量

答案：A

解析：在精密仪器实验中，使用电学仪器进行测量时，为了减少测量误差，通常需要使用高内阻电压表和低内阻电流表。高内阻电压表可以避免对被测电路的影响，从而得到更准确的电压测量结果。低内阻电流表可以减小测量电路的电阻，从而得到更准确的电流测量结果。短路测量电路会导致电路异常，无法得到正确的测量结果。长时间测量可能会导致电路温度变化，从而影响测量精度。

5.精密仪器实验中，使用机械仪器进行测量时，为了提高测量精度，通常需要（）

A.使用高精度测量工具

B.减小测量力

C.增加测量次数

D.使用自动测量系统

答案：B

解析：在精密仪器实验中，使用机械仪器进行测量时，为了提高测量精度，通常需要减小测量力。较大的测量力会导致测量工具的变形和磨损，从而影响测量精度。使用高精度测量工具可以提供更准确的测量结果，但减小测量力是更直接有效的方法。增加测量次数主要适用于消除随机误差的情况，而使用自动测量系统可以提高测量效率，但并不能直接提高测量精度。

6.精密仪器实验中，使用电子天平进行测量时，为了减少测量误差，通常需要（）

A.在潮湿环境中测量

B.使用校准过的砝码

C.快速称量样品

D.使用塑料容器称量

答案：B

解析：在精密仪器实验中，使用电子天平进行测量时，为了减少测量误差，通常需要使用校准过的砝码。校准过的砝码可以确保天平的测量精度和准确性。在潮湿环境中测量会导致样品吸湿或天平受潮，从而影响测量结果。快速称量样品会导致测量不稳定，而使用塑料容器称量可能会产生静电影响，这些都会增加测量误差。

7.精密仪器实验中，使用显微镜进行观察时，为了提高观察效果，通常需要（）

A.使用高倍率物镜

B.调整光源强度

C.使用平面反光镜

D.改变样品位置

答案：B

解析：在精密仪器实验中，使用显微镜进行观察时，为了提高观察效果，通常需要调整光源强度。合适的光源强度可以提供清晰的观察图像，过强或过弱的光源都会影响观察效果。使用高倍率物镜可以放大样品细节，但并不能保证观察效果，有时反而会降低图像质量。使用平面反光镜主要用于反射式显微镜，改变样品位置可能会影响观察结果，但这些方法都不如调整光源强度直接有效。

8.精密仪器实验中，使用示波器进行测量时，为了获得稳定的波形，通常需要（）

A.调整扫描速度

B.调整垂直放大倍数

C.使用触发功能

D.改变输入信号

答案：C

解析：在精密仪器实验中，使用示波器进行测量时，为了获得稳定的波形