《GB_T 4937.17-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第17部分：中子辐照》专题研究报告.pptx

;目录;;中子辐照的“独特破坏力”：半导体器件的微观损伤机制;（二）从“偶然失效”到“必然防控”：半导体产业对中子辐照试验的刚需演进;;

二、从太空到核工业：GB/T4937.17-2018如何锚定多场景中子辐照试验需求？;;;（三）通用电子场景：低剂量中子辐照的累积效应试验设计;;;;（三）环境协同因素：温度、湿度对中子辐照试验的影响及控制方法;;;（二）辐照过程中的实时监测：关键性能参数的动态追踪方案;（三）辐照后评估：性能衰减等级划分与失效判据解读;;;;（三）结果判定的“分级原则”：从合格到失效的明确边界;;;（二）差异化优势：立足国内产业