《GB_T 4937.19-2018半导体器件 机械和气候试验方法 第19部分：芯片剪切强度》专题研究报告.pptx

《GB/T4937.19-2018半导体器件机械和气候试验方法第19部分：芯片剪切强度》专题研究报告

目录01芯片剪切强度为何是半导体可靠性的“生命线”?专家视角解析标准核心价值与行业意义03试验对象与范围如何精准界定?深度剖析标准对半导体器件的分类覆盖与适用边界试验原理藏玄机:芯片剪切强度测试的力学逻辑是什么?标准技术内核全揭秘05试样制备是试验成败关键?遵循标准规范实现半导体芯片试样的精准管控07数据处理与结果判定的“标尺”在哪?专家解读标准中的数值要求与合格边界09未来已来:GB/T4937.19-2018将如何适配半导体微型化、高集成化的