2025年大学《化学测量学与技术》专业题库—— 化学测量学与技术的空间分辨技术.docxVIP

2025年大学《化学测量学与技术》专业题库——化学测量学与技术的空间分辨技术

考试时间：______分钟总分：______分姓名：______

一、选择题（请将正确选项的代表字母填入括号内。每小题2分，共20分）

1.在化学测量学中，空间分辨技术主要解决的问题是？

A.提高测量的绝对精度

B.降低测量的相对误差

C.获取样品中组分或性质的空间分布信息

D.增加测量的样品通量

2.下列哪种技术通常利用原子间的相互作用力来获取样品表面形貌信息，并具有纳米级别的空间分辨率？

A.扫描电子显微镜（SEM）

B.原子力显微镜（AFM）

C.二次离子质谱（SIMS）

D.X射线光电子能谱（XPS）

3.当需要获取样品亚微米至微米尺度上元素或化学键的分布信息时，以下哪种分析技术是首选？

A.扫描探针显微镜（SPM）

B.透射电子显微镜（TEM）

C.能量色散X射线光谱（EDS/EDX）

D.拉曼光谱成像

4.SIMS技术的核心原理是？

A.离子束激发样品产生荧光

B.利用样品对X射线的吸收差异进行元素分析

C.通过初级离子轰击样品表面，分析溅射出的二次离子

D.测量样品吸收或散射特定波长的光强度

5.与传统光学显微镜相比，扫描探针显微镜（SPM）最突出的优势之一是？

A.可以观测透明样品内部结构

B.对样品的表面形貌和性质具有极高的空间分辨率

C.可以进行非接触式测量，避免对软样品的损伤

D.通常具有更高的元素分析灵敏度

6.在空间分辨化学测量技术中，空间分辨率通常指的是？

A.仪器能够区分的最小信号强度

B.仪器能够分辨的最小样品尺寸或特征间距

C.测量结果与真实值之间的偏差

D.完成一次测量所需的最短时间

7.X射线光电子能谱成像（XPSI）技术主要用于获取样品表面的？

A.元素组成信息

B.化学键合状态信息

C.上述两者皆是

D.上述两者皆非

8.以下哪项因素不是影响空间分辨化学测量技术成像质量的关键因素？

A.仪器的空间分辨率极限

B.样品的制备方式

C.仪器的稳定性

D.操作者的测量经验（假设操作水平已达标）

9.在进行空间分辨SIMS分析时，通常需要选择合适的初级离子能量，主要目的是？

A.提高二次离子的产额

B.增大分析深度

C.减小对样品的损伤

D.以上都是

10.将光学显微镜与光谱技术（如荧光成像）结合，可以实现对样品进行？

A.元素成像

B.化学成像

C.形貌成像

D.上述两者结合

二、填空题（请将答案填入横线处。每空2分，共20分）

1.空间分辨技术是化学测量学的重要分支，它旨在获取物质在________上的分布信息。

2.原子力显微镜（AFM）可以通过________模式或________模式进行成像，前者适用于导电样品，后者适用于非导电样品。

3.SIMS技术的空间分辨率通常在纳米量级，其分析深度可以通过调节________来控制。

4.X射线显微分析技术，如扫描透射X射线显微镜（STXM）和能量色散X射线光谱（EDS），可以实现________和________的同时空间分辨。

5.为了获得高质量的空间分辨测量结果，除了仪器因素外，样品的________和________至关重要。

6.空间分辨技术的应用领域非常广泛，例如在材料科学中可以用于研究________，在生命科学中可以用于观察________。

三、简答题（请简要回答下列问题。每题5分，共20分）

1.简述扫描电子显微镜（SEM）成像的基本原理及其主要的优点。

2.与传统的点分析技术（如AAS、ICP-OES的单点测量）相比，空间分辨化学测量技术的主要优势和局限性是什么？

3.解释什么是空间分辨率，并简述影响空间分辨率的主要因素。

4.简述原子力显微镜（AFM）成像的基本原理，并说明其可以获取样品哪些方面的信息。

四、论述题（请结合所学知识，对下列问题进行深入论述。每题10分，共30分）

1.比较并论述原子力显微镜（AFM）和扫描隧道显微镜（STM）在空间分辨能力、样品适用性以及提供信息类型等方面的异同。

2.以环境样品分析或生物样品分析为例，论述空间分辨化学测量技术（如SIMS、XPS成像）在获取信息方面的独特价