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超声波检测二级试题库(UT)(含答案)

一、选择题

1.超声波在介质中传播时，遇到界面发生反射的条件是（）

A.界面两侧介质声阻抗相等

B.界面两侧介质声速相等

C.界面两侧介质声阻抗差异较大

D.界面两侧介质密度相等

答案：C

解析：当超声波在介质中传播遇到界面时，只有当界面两侧介质声阻抗差异较大时，才会发生明显的反射。声阻抗是介质的密度与声速的乘积，声阻抗差异越大，反射波越强。若声阻抗相等，则几乎不发生反射；声速相等不能决定是否反射；密度相等也不能决定反射情况。所以选C。

2.超声波检测中，纵波在固体中传播时，质点振动方向与波的传播方向（）

A.垂直

B.平行

C.成45°角

D.无固定关系

答案：B

解析：纵波的定义就是质点振动方向与波的传播方向平行的波。横波的质点振动方向与波的传播方向垂直。所以在固体中传播的纵波，其质点振动方向与波的传播方向平行，选B。

3.下列哪种材料的声速最高（）

A.水

B.钢

C.铝

D.有机玻璃

答案：B

解析：一般情况下，不同材料的声速是不同的。在常见材料中，钢的声速相对较高。水的声速约为1480m/s，钢的声速约为5900m/s，铝的声速约为6300m/s左右，有机玻璃声速约为2700m/s左右。虽然铝声速比钢略高一点，但在这几个选项中综合比较，通常认为钢的声速较高，所以选B。

4.超声波检测中，利用试块来校准仪器的目的是（）

A.使仪器正常工作

B.确定仪器的灵敏度

C.使仪器的示波屏上的波高达到一定高度

D.以上都是

答案：D

解析：利用试块校准仪器有多方面的目的。试块可以检查仪器是否正常工作，保证仪器处于良好的运行状态；通过试块可以确定仪器的灵敏度，使仪器能够准确检测到不同大小的缺陷；还可以调整仪器，使示波屏上的波高达到一定高度，方便后续的检测和判断。所以以上选项都是利用试块校准仪器的目的，选D。

5.超声波检测中，近场区长度与探头频率和晶片尺寸的关系是（）

A.频率越高，近场区长度越短

B.晶片尺寸越大，近场区长度越短

C.频率越高，近场区长度越长

D.近场区长度与频率和晶片尺寸无关

答案：C

解析：近场区长度的计算公式为(N=D24λ)（其中(D)为晶片直径，(λ)为波长，(λ=c

6.超声波检测中，缺陷的当量尺寸是指（）

A.缺陷的实际尺寸

B.与缺陷回波高度相同的标准反射体的尺寸

C.缺陷的投影尺寸

D.缺陷的最大尺寸

答案：B

解析：在超声波检测中，由于缺陷的实际尺寸很难直接测量，通常采用当量法。缺陷的当量尺寸是指与缺陷回波高度相同的标准反射体的尺寸。标准反射体可以是平底孔、横通孔、球孔等。通过与标准反射体的回波比较，来确定缺陷的当量大小，而不是缺陷的实际尺寸、投影尺寸或最大尺寸。所以选B。

7.超声波检测中，下列哪种探头适用于检测薄板材料（）

A.直探头

B.斜探头

C.表面波探头

D.双晶直探头

答案：D

解析：直探头主要用于检测厚板、轴类等内部缺陷；斜探头常用于检测焊缝等具有一定角度的部位；表面波探头主要检测材料表面和近表面缺陷；双晶直探头有两个晶片，一个发射，一个接收，它可以减少近场区的影响，适用于检测薄板材料中的缺陷。所以选D。

8.超声波在介质中传播时，声能的衰减主要是由于（）

A.扩散衰减

B.吸收衰减

C.散射衰减

D.以上都是

答案：D

解析：超声波在介质中传播时，声能的衰减主要有三个方面的原因。扩散衰减是由于波阵面的扩散，使单位面积上的声能减少；吸收衰减是介质分子的内摩擦等原因，将声能转化为热能而消耗；散射衰减是超声波遇到介质中的微小颗粒等不均匀体时，向各个方向散射而导致声能损失。所以声能的衰减是扩散衰减、吸收衰减和散射衰减共同作用的结果，选D。

9.超声波检测中，调节仪器的增益旋钮，主要是改变（）

A.超声波的频率

B.超声波的声速

C.仪器的放大倍数

D.超声波的波长

答案：C

解析：增益旋钮是用来调节仪器的放大倍数的。调节增益旋钮可以使示波屏上的回波信号幅度增大或减小，从而方便对缺陷回波进行观察和测量。它不会改变超声波的频率、声速和波长。频率由探头决定，声速由介质决定，波长与频率和声速有关。所以选C。

10.超声波检测中，当缺陷的取向与超声波传播方向（）时，缺陷的回波最高。

A.垂直

B.平行

C.成45°角

D.成60°角

答案：A

解析：当缺陷的取向与超声波传播方向垂直时，超声波能够最大程度地反射回探头，此时缺陷的回波最高。如果缺陷取向与超声波传播方向平行，回波可能很弱甚至检测不到；成45°角或60°角时，回波强度也不如垂直时高。所以选A。

二、填空题

1.超声波检测中，常用的耦合剂有_、_、____等。

答案：机油、