- 1、本文档内容版权归属内容提供方,所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议,可选择认领,认领后既往收益都归您。。
- 2、本文档由用户上传,本站不保证质量和数量令人满意,可能有诸多瑕疵,付费之前,请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形,可联系本站下载客服投诉处理。
- 3、文档侵权举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
查看更多
第PAGE页共NUMPAGES页
芯片测试工程师面试技巧及经验
一、基础知识(共5题,每题2分,总分10分)
1.单选题:半导体器件的基本结构中,以下哪一项不属于MOSFET的组成部分?
A.源极(Source)
B.漏极(Drain)
C.集电极(Collector)
D.栅极(Gate)
答案:C
解析:MOSFET(金属氧化物半导体场效应晶体管)的基本结构包括源极、漏极和栅极,集电极是双极型晶体管的组成部分,因此选项C错误。
2.单选题:在芯片测试中,以下哪项不属于常见的测试方法?
A.功能测试
B.可靠性测试
C.电磁兼容测试
D.调制解调测试
答案:
原创力文档


文档评论(0)