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产品信息蔡司Crossbeam产品系列
版本3.2
专为高通量3D分析和样品制备量身打造的FIB-SEM
专为高通量3D分析和样品制备量身打造的FIB-SEM
蔡司Crossbeam将场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）镜筒的强大成像和
›简介
分析性能与新一代聚焦离子束（FIB)的优异加工能力相结合
›优势
›应用无论是切割、成
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