原创力文档《芯片测试与安全》芯片测试A4_Determining_a_Failure_Root_Cause_Distribution_From_a_Population_of_Layout-Aware_Scan_Diagnosis_Results.pdf
YieldLearningProcessesandMethods
DeterminingaFailureRoot
CauseDistributionFroma
PopulationofLayout-Aware
ScanDiagnosisResults
BradyBenware,ChrisSchuermyer,ThomasHerrmann
andManishSharma
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