纳米粒子粒径评估方法讲课文档.pptVIP

纳米粒子粒径评估方法;几个基本概念;几个基本概念;5.1常用的方法粒径评估的方法;5.1.1透射电镜观察法;5.1.1透射电镜观察法;透射电镜的结构;;;高分辨透射电子显微镜;5.1.1透射电镜观察法;;5.1.1透射电镜观察法注意的问题;5.1.2X射线衍射线线宽法(谢乐公式);;5.1.2X射线衍射线线宽法(谢乐公式);谢乐公式计算晶粒度时注意的问题;;这说明制备的粒子是纳米级晶粒。

可根据谢乐公式计算粒子尺寸。

d=0.89*λ/Bcosθ或d=0.89*λ/（B-B0）cosθ

计算半峰宽要使用弧度，2θ转化为θ。

0.386o---------0.00674

0.451o--------0.00787

计算晶粒粒径时要求2θ，小于50o。

d1=21.1（nm）

d2=18.3（nm）

d=（d1+d2）/2=19.7(nm);3比表面积法;3比表面积法;把Vm换算成吸附质的分子数(Vm/Vo·NA)乘以一个吸附质分子的截面积Am，即可用下式计算出吸附剂的表面积S：

式中，Vo为气体的摩尔体积；NA为阿伏伽德罗常量．

固体比表面积测定时常用的吸附质为N2气。一个N2分子的截面积一般为0.158nm2．

为了便于计算，可把以上3个常数合并之，令Z=NAAm／Vo．于是表面积计算式便简化为

S=ZVm=4.25Vm．

因此，只要求得Vm，代人上式即可求出被测固体的表面积.

;4X射线小角散射法;5拉曼(Raman)散射法;6探针扫描显微镜;6.1扫描隧道显微镜（STM）;6.1扫描隧道显微镜（STM）;;6.2原子力显微镜的基本原理

;;;;;;原子力显微镜的硬件结构;;位置检测部分;;反馈系统

;反馈系统

;7激光粒度分析法;光子相关谱;光子相关谱;谢谢大家！