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纳米ZnO/CdS和Nd(OH)?的电化学构筑及其去除染料的研究
一、引言
随着印染工业的快速发展,染料废水成为水体污染的重要来源。这类废水成分复杂、色度高、毒性强,传统处理方法难以实现高效降解。半导体光催化技术因具有能耗低、无二次污染等优势,成为染料废水处理的研究热点。
ZnO作为典型的n型半导体,禁带宽度约为3.2eV,具有良好的光催化活性,但存在光生电子-空穴对复合率高、可见光响应弱等问题。CdS禁带宽度较窄(约2.4eV),可见光吸收能力强,与ZnO形成异质结可有效抑制载流子复合。Nd(OH)?作为稀土氢氧化物,具有独特的电子结构和表面特性,可通过调控催化材料表面电子状态进一步提升催化性能。
本研究采用电化学沉积法构筑纳米ZnO/CdS异质结与Nd(OH)?复合催化材料,系统探究材料的制备工艺、微观结构及电化学性能,并以典型偶氮染料(如甲基橙、刚果红)为目标污染物,评价其在不同条件下的染料去除效率与机理,为新型高效染料废水处理材料的开发提供理论依据与技术支撑。
二、实验部分
(一)实验材料与仪器
实验材料:硝酸锌(Zn(NO?)??6H?O)、氯化镉(CdCl??2.5H?O)、硫脲(CH?N?S)、硝酸钕(Nd(NO?)??6H?O)、氢氧化钠(NaOH)、盐酸(HCl)、甲基橙(MO)、刚果红(CR),均为分析纯;实验用水为超纯水(18.25MΩ?cm);基底材料为ITO导电玻璃(1.5cm×2.5cm),使用前经乙醇、丙酮、超纯水依次超声清洗15min,氮气吹干备用。
实验仪器:CHI660E电化学工作站(上海辰华仪器有限公司)、X射线衍射仪(XRD,D8Advance,德国布鲁克)、场发射扫描电子显微镜(FESEM,SU8010,日本日立)、紫外-可见漫反射光谱仪(UV-VisDRS,UV-2600,日本岛津)、总有机碳分析仪(TOC-L,日本岛津)。
(二)纳米ZnO/CdS与Nd(OH)?的电化学构筑
纳米ZnO的电化学沉积:以ITO导电玻璃为工作电极,铂片为对电极,饱和甘汞电极(SCE)为参比电极,构建三电极体系。电解液为0.1mol/LZn(NO?)?溶液,用NaOH调节pH至6.5。采用恒电位沉积法,设定沉积电位为-1.2V,沉积时间30min,沉积完成后将电极置于马弗炉中,在450℃下退火2h,得到纳米ZnO薄膜。
ZnO/CdS异质结的构筑:以沉积有ZnO的ITO电极为工作电极,继续采用恒电位沉积法制备CdS。电解液为0.05mol/LCdCl?与0.1mol/L硫脲的混合溶液(摩尔比1:2),pH调节至8.0。沉积电位设定为-0.8V,沉积时间20min,沉积后用超纯水冲洗电极表面,氮气吹干,得到ZnO/CdS异质结。
Nd(OH)?的复合修饰:采用循环伏安法(CV)在ZnO/CdS异质结表面沉积Nd(OH)?。电解液为0.01mol/LNd(NO?)?溶液,pH调节至9.0。扫描范围为-1.5V~0V,扫描速率50mV/s,循环次数10圈,沉积完成后在60℃真空干燥箱中干燥4h,最终得到ZnO/CdS/Nd(OH)?复合催化材料。
(三)材料表征与性能测试
结构与形貌表征:通过XRD分析材料的晶体结构,扫描范围2θ=10°~80°;利用FESEM观察材料的表面形貌与粒径分布;采用UV-VisDRS测试材料的光吸收性能,扫描范围200nm~800nm。
电化学性能测试:在0.1mol/LNa?SO?电解质中,通过CV、电化学阻抗谱(EIS)和瞬态光电流响应测试,分析材料的电化学行为与光生载流子分离效率。EIS测试频率范围为10?2Hz~10?Hz,交流振幅5mV;光电流响应测试采用300W氙灯(配备420nm截止滤光片)作为可见光光源,施加偏压0.5V。
染料去除性能测试:以50mL10mg/L的甲基橙或刚果红溶液为模拟染料废水,加入0.1g/L的ZnO/CdS/Nd(OH)?复合材料(若为薄膜电极则直接浸入溶液),在300W氙灯照射下进行光催化反应,每隔15min取样,通过紫外-可见分光光度计测定溶液在特征吸收波长(MO:464nm,CR:497nm)处的吸光度,计算染料去除率(去除率=(1-A/A?)×100%,其中A为反应后吸光度,A?为初始吸光度)。同时,采用TOC分析仪测定反应前后溶液的TOC含量,评价染料的矿化程度。
三、结果与讨论
(一)材料的结构与形貌分析
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