《GB_T 40128-2021表面化学分析 原子力显微术 二硫化钼片层材料厚度测量方法》专题研究报告.pptx

;目录;;为何MoS2厚度测量成为二维半导体产业的“刚需”;（二）标准制定的技术溯源与产业驱动背景;（三）标准核心框架：从样品到结果的全链条管控逻辑;;AFM的“原子级触觉”：测量原理的标准解读;（二）MoS2的物理特性对测量原理的特殊要求;（三）标准原理与国际先进方法的一致性验证;;;（二）设备校准的“量值溯源”：标准物质与校准周期;;;;（二）MoS2转移方法的标准规范：湿法与干法的选择;;;;（二）测量区域与点数的标准要求：兼顾效率与代表性;;;;在AFM高度图中，选取MoS2区域与相邻衬底区域的高度差作为厚度值。每个测量点计算3次高度