19-仪表圈仪堂课-林洪俊-《安全仪表系统争议问题辨析》.pdfVIP

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安全仪表系统争议问题辨析

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2023.11

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SIS组成

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通常认为SIS由测量仪表、逻辑控制器、最终元件组成。

这样简单的理解是不够的，将会导致对SIS要求的片面化，不能保证其安全

可靠性。不能做好安全生命周期内的设计、集成、维护工作。

安全仪表系统应由测量仪表、逻辑控制器、最终元件、关联仪表、测量管

路、信号线路、网络和通信接口、人机接口设备等组成。

关联仪表应包括逻辑控制器输入、输出回路中的继电器、隔离器、信号分配器、电涌保护

器、安全栅等。

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SIS的安全可靠性

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SIS的安全可靠性，准确说应该是SIF的安全完整性。

安全完整性通常用SIL表达，而SIL又用失效率（PFDavg、PFH）表达。

这样简单的理解是不够的，将会导致对SIS的理解理想化，要求片面化，

不能保证SIS的安全可靠性。

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SIF安全仪表系统安全完整性包括：

硬件安全完整性；

系统性能力。

SIF硬件安全完整性包括：

硬件危险失效率；

结构约束。

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硬件危险失效率：

PFDavg;

PFH。

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硬件结构约束：

结构约束可通过硬件故障裕度（HFT）要求表达。硬件故障裕度（HFT）可

采用下列方式之一确定：

表1不同SIL对应的最小HFT要求

1.符合表1的要求；

SIL操作模式要求的最小HFT

1任何模式0

2低要求运行模式0

2高要求/连续运行模式1

3任何模式1

4任何模式2

注1：FVL和LVL可编程设备的诊断覆盖率不应小于60%；

注2：失效率计算中使用的可靠性数据应由不小于70%的统计置信区间上限确定

。

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2.GB/T20438.2-2017的7.4.4.2（路线1H）的要求；

3.GB/T20438.2-2017的7.4.4.3（路线2H）的要求。

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系统性能力：

系统性能力可分为SC1、SC2、SC3、SC4共4级。

SIF的安全完整性等级应为硬件安全完整性等级与系统性能力等级中的较

小值。即：SIF的安全完整性等级SILN应为硬件安全完整性SILX（X=1~4）和

系统性能力SCY（Y=1~4）的较小值，即N=min（X，Y）。

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