2025年智慧树知到《扫描电子显微镜技术》考试题库及答案解析.docxVIP

2025年智慧树知到《扫描电子显微镜技术》考试题库及答案解析

就读院校：________姓名：________考场号：________考生号：________

一、选择题

1.扫描电子显微镜（SEM）的主要成像原理是（）

A.发射电子束与样品相互作用产生荧光

B.利用透射电子束穿过样品形成像

C.通过反射光成像

D.利用样品自身发光成像

答案：A

解析：扫描电子显微镜通过发射电子束扫描样品表面，电子束与样品相互作用产生二次电子、背散射电子等信号，这些信号被探测器收集并转换成图像，从而实现高分辨率的表面成像。选项B描述的是透射电子显微镜的成像原理，选项C和D不是扫描电子显微镜的主要成像方式。

2.在扫描电子显微镜中，用于提高图像分辨率的主要参数是（）

A.加速电压

B.照射电流

C.样品台高度

D.光源强度

答案：A

解析：提高加速电压可以增加电子束的能量，从而减少电子束与样品相互作用时的散射，提高图像分辨率。照射电流主要影响图像的衬度，样品台高度影响样品与探测器的距离，光源强度与扫描电子显微镜无关。

3.扫描电子显微镜中，常用的探测器类型不包括（）

A.二次电子探测器

B.背散射电子探测器

C.X射线能谱仪

D.光学显微镜

答案：D

解析：扫描电子显微镜常用的探测器包括二次电子探测器、背散射电子探测器和X射线能谱仪等，用于检测不同类型的信号并转换成图像。光学显微镜不属于扫描电子显微镜的组成部分。

4.在扫描电子显微镜样品制备过程中，喷金的目的主要是（）

A.提高样品导电性

B.增加样品重量

C.保护样品表面

D.改变样品化学成分

答案：A

解析：喷金（或喷铂）是为了在非导电样品表面形成一层导电薄膜，提高样品的导电性，防止电子束轰击时产生电荷积累，从而获得高质量的扫描电子显微镜图像。

5.扫描电子显微镜中，用于控制电子束扫描路径的装置是（）

A.样品台

B.磁场线圈

C.探测器

D.计算机控制系统

答案：B

解析：磁场线圈（或电磁透镜）用于聚焦和偏转电子束，控制电子束在样品表面的扫描路径。样品台用于放置和移动样品，探测器用于收集信号，计算机控制系统用于处理信号和控制整个显微镜的操作。

6.扫描电子显微镜中，常用的加速电压范围是（）

A.1-10kV

B.10-50kV

C.50-300kV

D.300-1000kV

答案：C

解析：扫描电子显微镜常用的加速电压范围通常是50-300kV，这个范围可以提供足够的电子能量，同时保持合理的电子束穿透深度和图像分辨率。

7.在扫描电子显微镜中，用于提高图像衬度的技术不包括（）

A.样品倾斜

B.电子束偏转

C.背散射电子信号检测

D.能量色散X射线谱仪

答案：B

解析：提高图像衬度的技术包括样品倾斜、背散射电子信号检测和使用能量色散X射线谱仪等，这些技术可以增强样品表面的差异，从而提高图像的衬度。电子束偏转主要用于控制电子束的扫描路径，与图像衬度无关。

8.扫描电子显微镜中，样品室的主要作用是（）

A.产生电子束

B.真空环境维持

C.样品固定

D.图像处理

答案：B

解析：样品室是扫描电子显微镜的重要组成部分，其主要作用是维持真空环境，确保电子束能够在没有空气阻力的条件下扫描样品，从而获得高质量的图像。

9.在扫描电子显微镜样品制备过程中，干燥的目的主要是（）

A.防止样品变形

B.减少样品重量

C.提高样品导电性

D.增加样品透明度

答案：A

解析：干燥样品的主要目的是防止样品在制备过程中变形或损坏，特别是在进行切割、研磨等机械加工时，干燥可以减少样品的湿变形，保证样品的完整性和成像质量。

10.扫描电子显微镜中，常用的样品固定方法不包括（）

A.粘贴

B.熔接

C.涂覆

D.抛光

答案：D

解析：扫描电子显微镜常用的样品固定方法包括粘贴、熔接和涂覆等，这些方法可以将样品固定在样品台上，便于进行观察。抛光是一种样品制备技术，用于提高样品表面的光滑度，但不属于样品固定方法。

11.扫描电子显微镜中，二次电子信号的主要来源是（）

A.样品表面轰击点

B.样品内部

C.探测器本身

D.磁场线圈

答案：A

解析：二次电子是入射电子束轰击样品表面时，从样品表面溅射出来的低能电子，主要来源于样品表面轰击点及其附近区域。这些电子能量较低，与样品表面形貌密切相关，因此二次电子信号对于扫描电子显微镜获取高分辨率表面形貌图像至关重要。

12.扫描电子显微镜中，背散射电子信号的主要来源是（）

A.样品表面轰击点

B.样品内部

C.探测器本身

D.磁场线圈

答案：B

解析：背散射电子是入射电子束穿过样品时，在样品内部发生弹性散射后返回样品表面的电子，主要来源于样品内部。背散射电子