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基于65nm工艺嵌入式存储器MBIST电路的研究
摘要
随着深亚微米技术的发展，嵌入式存储器在片上系统芯片（SoC）上所占比重日益增大。由于嵌入式存储器中晶体管密集，存在高布线密度、高复杂度和高工作频率等因素，极易出现物理缺陷。因此，研究高效率的测试算法，建立有效的嵌入式存储器测试方法，对提升芯片成品率、降低芯片生产成本具有重要意义。本文从13种存储器故障类型（单一单元故障和耦合故障）的研究入手，针对每种故障原语提出对应的March测试算法，通过对这些测试算法的优化合并，推导出满足65nm工艺要求的新型March28算法。新算法能够检测所有现实的连接性故障、单一单元故障
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