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深度解析(2026)《GBT 42968.4-2024集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分：射频功率直接注入法》(2026年)深度解析.pptxVIP

深度解析(2026)《GBT 42968.4-2024集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分：射频功率直接注入法》(2026年)深度解析.pptx

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    《GB/T42968.4-2024集成电路电磁抗扰度测量第4部分：射频功率直接注入法》(2026年)深度解析

    目录01一射频功率直接注入法:集成电路电磁抗扰度测试的“精准探针”?专家视角解密核心价值03三测试基础全解析:从电磁干扰机理到设备要求,如何搭建合规的射频注入测试环境?注入点选择的大学问:哪些引脚是IC抗扰的“软肋”?标准划定的关键测试位置详解05测试流程步步拆解:从样品准备到结果判定,GB/T42968.4-2024的合规操作指南07与其他测试方法的碰撞:射频直接注入法为何在小信号IC测试中“独领风骚”?09未来挑战与修订前瞻

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