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光电材料仿真：半导体材料仿真_8.半导体材料的表征与测试技术.docx

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    8.半导体材料的表征与测试技术

    8.1引言

    半导体材料的表征与测试技术是光电材料研究中的重要环节。通过对半导体材料进行详细的表征和测试，可以了解材料的物理、化学和电学性质，从而优化材料的制备工艺和器件设计。本节将详细介绍几种常用的半导体材料表征与测试技术，包括X射线衍射（XRD）、扫描电子显微镜（SEM）、透射电子显微镜（TEM）、紫外-可见光谱（UV-Vis）、光致发光光谱（PL）、拉曼光谱（Raman）、霍尔效应测试（HallEffect）和能带结构计算（BandStructureCalculation）。

    8.2X射线衍射（XRD）

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