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基于累加器的DSP数据通路内建自测试技术：原理、优化与实践

一、绪论

1.1研究背景与意义

数字信号处理（DigitalSignalProcessing，DSP）作为现代信号处理中最重要的分支之一，已经深入到人类生活的方方面面。从通信领域的信号传输与处理，到医疗领域的医学影像分析与诊断；从音频处理中的音乐制作与语音识别，到图像处理中的图像增强与目标检测，DSP技术都发挥着关键作用。随着科技的不断进步，DSP系统的应用场景日益广泛，对其性能和可靠性的要求也越来越高。

在DSP系统中，数据通路是实现数字信号处理的关键部分，它负责数据的传输、运算和存储。数据通路的性能直接影响着整个DSP系统的运行效率和处理能力。随着集成电路技术的不断发展，芯片的复杂度越来越高，数据通路的设计也变得更加复杂。这使得数据通路的测试变得尤为重要，因为一个微小的设计错误都可能导致整个系统的故障。传统的测试方法，如外部测试设备，虽然能够检测出一些故障，但存在着成本高、测试时间长、覆盖率低等问题。因此，需要一种更加高效、可靠的测试技术来满足现代DSP系统的测试需求。

内建自测试（Built-InSelf-Test，BIST）技术应运而生，它将测试逻辑集成在芯片内部，使得芯片能够在无需外部复杂测试设备的情况下进行自我测试。这种技术不仅能够降低测试成本，还能提高测试的覆盖率和效率。基于累加器的内建自测试技术作为BIST技术的一种重要形式，近年来受到了广泛的关注。累加器在VLSI中广泛存在，基于累加器的BIST技术通过复用VLSI中部分加法器作为测试生成器和测试响应压缩器，能够有效地降低硬件开销。同时，由于其利用了累加器的特性，使得测试性能得到了显著提升，能够更准确地检测出数据通路中的故障，提高了系统的可靠性。

综上所述，基于累加器的DSP数据通路的内建自测试技术的研究，对于解决现代DSP系统测试难题，降低测试成本，提高系统可靠性具有重要的理论意义和实际应用价值。它不仅能够推动数字信号处理技术的发展，还能为相关领域的应用提供更加可靠的技术支持。

1.2国内外研究现状

在国外，基于累加器的DSP数据通路的内建自测试技术的研究开展得较早，取得了一系列重要成果。一些研究团队致力于优化测试生成算法，通过改进累加器的结构和操作方式，提高测试矢量的生成效率和质量。例如，[文献1]提出了一种基于累加器的时延故障测试序列生成器设计，通过对累加器结构作低成本的设计改进，并结合高效的单跳变序列生成算法，实现了低硬件成本和低时间开销的时延故障测试。还有学者专注于研究如何提高测试响应压缩的效率，减少测试数据的存储和传输量。[文献2]中采用了一种新的压缩算法，能够在保证故障覆盖率的前提下，大幅压缩测试响应数据。

在国内，相关研究也在积极推进。许多高校和科研机构针对基于累加器的BIST技术在DSP数据通路中的应用进行了深入研究。一些研究重点关注可测性设计方案的优化，通过合理设计测试状态和工作状态的转换机制，减少额外硬件开销的同时提高可测性。[文献3]提出了利用三态门实现DSP数据通路测试状态和工作状态转换的方案，在测试状态下将数据通路中部分寄存器转化成扫描链，并切断反馈回路，该方案通用性强、可测性好且额外硬件开销小。还有研究致力于降低测试功耗，提出了对测试矢量进行伪格雷码编码等方法，以减少测试期间被测电路模块的开关活动率，从而降低测试功耗。

然而，目前的研究仍存在一些不足之处。一方面，在测试生成算法的通用性和灵活性方面还有待提高，现有的算法往往针对特定的电路结构和故障模型设计，难以适应复杂多变的DSP数据通路。另一方面，在测试过程中的功耗优化问题尚未得到完全解决，虽然已有一些降低功耗的方法，但在实际应用中仍需要进一步探索更加有效的策略。此外，对于基于累加器的BIST技术与其他测试技术的融合研究还相对较少，如何将其与边界扫描等技术相结合，以实现更全面、高效的测试，也是未来研究需要关注的方向。

1.3研究内容与方法

本研究主要围绕基于累加器的DSP数据通路的内建自测试技术展开，具体内容包括以下几个方面：

DSP数据通路的可测性设计：提出一种基于扫描通路法的可测性设计方案，利用三态门实现DSP数据通路测试状态和工作状态的转换。在测试状态下，将数据通路中部分寄存器转化成扫描链，并切断数据通路中的反馈回路，以提高数据通路的可测性，同时尽量减少额外硬件开销对原电路性能的影响。

基于累加器的测试生成研究：深入研究基于累加器的BIST环境中DSP数据通路测试生成。证实n位加/减法器2n位测试矢量可由两个n位累加器产生矢量合成，并针对DSP数据通路中加/减法器的具体情况，通过