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电镜理论考试题库及答案

一、单项选择题（每题2分，共10题）

1.透射电子显微镜的分辨率主要取决于（）

A.加速电压

B.透镜的像差

C.样品的厚度

D.电子枪的类型

2.扫描电子显微镜的成像信号主要是（）

A.二次电子

B.背散射电子

C.吸收电子

D.透射电子

3.电子显微镜中，物镜的作用是（）

A.形成第一级放大像

B.进一步放大像

C.聚焦电子束

D.调整像的对比度

4.选区电子衍射的作用是（）

A.确定晶体结构

B.分析化学成分

C.观察微观组织

D.测量晶体尺寸

5.能谱仪主要用于分析样品的（）

A.晶体结构

B.元素组成

C.表面形貌

D.电子能量分布

6.电子显微镜的真空系统作用是（）

A.防止电子与气体分子碰撞

B.保持样品干燥

C.提高电子枪寿命

D.以上都是

7.高分辨电子显微镜主要用于观察（）

A.晶体的晶格条纹

B.非晶态结构

C.表面形貌细节

D.化学成分分布

8.扫描透射电子显微镜兼具（）功能。

A.扫描和透射成像

B.能谱分析和电子衍射

C.A和B选项都有

D.高分辨成像和元素分析

9.电子能量损失谱可以分析（）

A.元素种类

B.化学键信息

C.电子能量分布

D.以上都能分析

10.场发射电子枪的优点是（）

A.亮度高

B.能量分散小

C.使用寿命长

D.以上都是

二、多项选择题（每题2分，共10题）

1.电子显微镜的主要组成部分包括（）

A.电子光学系统

B.真空系统

C.信号检测与图像处理系统

D.样品制备系统

2.透射电子显微镜的成像模式有（）

A.明场像

B.暗场像

C.高分辨像

D.能量过滤像

3.扫描电子显微镜的成像衬度包括（）

A.二次电子像衬度

B.背散射电子像衬度

C.吸收电子像衬度

D.特征X射线像衬度

4.电子显微镜中常用的电子探测器有（）

A.闪烁体探测器

B.半导体探测器

C.能量过滤探测器

D.二次电子探测器

5.选区电子衍射操作时需要调节的参数有（）

A.加速电压

B.束斑尺寸

C.选区光阑大小

D.相机长度

6.能谱仪分析元素的原理基于（）

A.特征X射线能量

B.俄歇电子能量

C.电子能量损失

D.背散射电子能量

7.电子显微镜样品制备的方法有（）

A.超薄切片

B.复型

C.粉末样品制备

D.冷冻蚀刻

8.高分辨电子显微镜成像时，影响分辨率的因素有（）

A.电子束相干性

B.样品厚度和结晶度

C.X射线散射

D.透镜像差校正程度

9.扫描透射电子显微镜的特点包括（）

A.高分辨率成像

B.能进行微区成分分析

C.可实现原位观察

D.对样品损伤小

10.电子能量损失谱可用于研究（）

A.元素化学态

B.电子能量损失机制

C.晶体能带结构

D.材料表面吸附情况

三、判断题（每题2分，共10题）

1.电子显微镜的放大倍数是无限的。（）

2.扫描电子显微镜只能观察样品的表面形貌，不能分析成分。（）

3.透射电子显微镜中，加速电压越高，分辨率越高。（）

4.选区电子衍射可以确定晶体的晶格常数。（）

5.能谱仪分析元素时，不同元素的特征X射线能量相同。（）

6.电子显微镜的真空度越高越好。（）

7.高分辨电子显微镜成像时，样品必须是完美的晶体。（）

8.扫描透射电子显微镜中，扫描成像和透射成像可以同时进行。（）

9.电子能量损失谱分析时，能量损失峰的位置与元素种类无关。（）

10.场发射电子枪发射的电子能量分布比热阴极电子枪更窄。（）

四、简答题（每题5分，共4题）

1.简述透射电子显微镜成像的基本原理。

2.扫描电子显微镜二次电子像和背散射电子像的衬度形成原理有何不同？

3.选区电子衍射的操作步骤有哪些？

4.能谱仪分析元素的局限性有哪些？

五、讨论题（每题5分，共4题）

1.如何提高电子显微镜的分辨率？

2.电子显微镜在材料科学研究中的应用有哪些方面？

3.对于复杂样品的分析，扫描电子显微镜和透射电子显微镜如何配合使用？

4.电子能量损失谱在材料研究中的发展趋势是什么？

答案及解析

一、单项选择题答案及解析

1.答案：B

-解析：透镜的像差是影响透射电子显微镜分辨率的主要因素，尤其是球差，它限制了分辨率的进一步提高。加速电压影响电子的穿透能力等；样品厚度影响图像衬度等；电子枪类型主要影响电子束的发射特性，对分辨率不是直接决定因素