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基于BIST的FPGA内部延时故障测试：方法、实践与优化

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代数字系统飞速发展的进程中，现场可编程门阵列（FPGA）凭借其显著优势，已然成为构建数字系统的关键核心部件。FPGA以其灵活性、可重构性以及快速上市等突出特性，在通信、航空航天、医疗、工业控制等众多关键领域得到了极为广泛的应用。在通信领域，为满足5G通信对大容量、低延迟的严苛要求，FPGA被大量应用于实现高速数据处理和信号传输；在航空航天领域，其高可靠性和可定制性为卫星导航、飞行控制等系统提供了不可或缺的关键支持。

然而，随着集成电路技术的持续进步，FPGA芯片规模不断扩大，与此同时，应用场景对其性能的要求也在日益提高，这使得FPGA的时延故障问题逐渐浮出水面，成为阻碍其进一步发展和应用的关键制约因素。时延故障是指由于电路中信号传输延迟超出了系统预先规定的时序约束，进而导致电路无法在规定时间内准确完成逻辑功能的一种故障类型。这种故障对系统性能的负面影响不容小觑，不仅会降低数据处理速度、增加信号传输延迟，在严重情况下，甚至可能致使系统完全瘫痪，从而造成难以估量的巨大经济损失。特别是在一些对可靠性要求近乎苛刻的领域，如航空航天、医疗设备等，FPGA的时延故障极有可能引发灾难性的后果。

随着FPGA规模的持续扩张，其内部逻辑结构和信号传输路径变得愈发错综复杂，传统的测试技术在面对大规模FPGA系统的时延故障测试时，暴露出了诸多难以克服的挑战。一些传统的基于固定测试向量的方法，由于无法全面覆盖FPGA内部复杂多变的信号路径及时延变化情况，导致故障检测率较低；而另一些方法则可能需要消耗大量的测试时间和资源，在实际应用中缺乏可行性。因此，为了确保FPGA芯片在正常工作状态下能够严格满足系统的时序约束，进而保障系统的可靠性和稳定性，深入研究并开发一种高效、准确的基于内建自测试（BIST）的FPGA内部延时故障测试方法具有至关重要的现实意义和紧迫性。这不仅有助于推动FPGA技术在现有应用领域的进一步拓展和深化，还能为其在新兴领域的应用奠定坚实的基础，从而为现代数字系统的发展注入强大动力。

1.2FPGA概述

FPGA，即现场可编程门阵列（FieldProgrammableGateArray），是一种可编程逻辑器件。用户可通过改变配置信息对其功能进行定义，以满足不同的设计需求。与ASIC（Application-SpecificIntegratedCircuit）相比，FPGA具有更高的灵活性和可重构性，这使得它在需要快速开发、验证和修改数字电路的应用中备受青睐。

FPGA的基本结构主要由可编程逻辑单元（ConfigurableLogicBlock，CLB）、输入输出块（Input/OutputBlock，IOB）、块随机访问存储器模块（BlockRandomAccessMemory，BRAM）和时钟管理模块（ClockManagementModule，CMM）等部分组成。其中，CLB是FPGA中最为基本的逻辑单元，它主要由查找表（Look-UpTable，LUT）和触发器（Flip-Flop）构成，承担着实现用户定制逻辑功能的重任。每个CLB中的LUT能够实现各种逻辑函数，而触发器则用于存储时序电路的状态信息。IOB作为FPGA与外界进行通信的接口，每个IOB负责控制一个外部引脚的输入输出，并且支持多种不同的电气标准，如LVTTL、LVCMOS、SSTL、HSTL等，以充分满足不同应用场景的多样化需求。BRAM则为FPGA提供了片上数据存储能力，它可以被配置为单端口或双端口RAM，常用于缓存数据或存储逻辑电路中的重要参数。CMM主要负责管理FPGA芯片内部的时钟信号，通过对时钟信号进行分频、延迟、缓冲等操作，提高时钟频率并减少时钟抖动，从而为FPGA内的逻辑块提供稳定可靠的时钟信号，这对于保证FPGA设计的性能和稳定性起着至关重要的作用。

FPGA的工作原理基于其内部可编程逻辑单元和互连结构。用户使用硬件描述语言（HDL），如Verilog、VHDL等来描述所需实现的逻辑电路。这些代码经过综合工具处理，被转化为门级网表，然后通过布局布线工具将逻辑单元合理地放置在FPGA芯片上，并利用可编程互连资源将它们连接起来，最终生成配置文件，即比特流文件。将该比特流文件下载到FPGA芯片中，FPGA便会按照配置信息执行相应的逻辑功能。

由于FPGA具有上述结构和工作特点，使其在众多领域得到了广泛应用。在通信领域，它被大量应用于5G基站信号处理、物联网设备通信等场景。在5G基站中，FPGA用于实现5G