2025年无损检测综合能力测试试卷及答案.docxVIP

2025年无损检测综合能力测试试卷及答案

一、单项选择题（共20题，每题2分，共40分）

1.相控阵超声检测（PAUT）中，通过调整各阵元的激励延迟时间实现声束偏转，其理论依据是：

A.惠更斯原理

B.费马原理

C.叠加原理

D.布拉格定律

2.数字射线检测（DR）中，非晶硅平板探测器（FPD）的核心部件是：

A.闪烁体层+薄膜晶体管阵列（TFT）

B.碘化铯针状晶体+电荷耦合器件（CCD）

C.硒半导体层+互补金属氧化物半导体（CMOS）

D.荧光屏+光电倍增管（PMT）

3.磁粉检测（MT）中，检测奥氏体不锈钢焊缝表面缺陷时，优先选用的磁化方法是：

A.周向磁化（直接通电法）

B.纵向磁化（线圈法）

C.交叉磁轭法

D.剩磁法

4.渗透检测（PT）中，若被检材料为高表面粗糙度的铸铁件，应选择的渗透剂类型是：

A.水洗型荧光渗透剂

B.后乳化型着色渗透剂

C.溶剂去除型荧光渗透剂

D.自乳化型着色渗透剂

5.涡流检测（ET）中，检测非铁磁性管材时，若需提高对深层缺陷的灵敏度，应选择：

A.增加激励频率

B.降低激励频率

C.增大检测线圈直径

D.减小提离距离

6.根据NB/T47013-2023《承压设备无损检测》，对接焊缝超声检测中，当母材厚度为30mm时，探头K值（折射角正切值）的合理选择范围是：

A.0.8~1.2

B.1.5~2.5

C.2.0~3.0

D.3.0~4.0

7.X射线检测中，若管电压为200kV，管电流为5mA，曝光时间为3min，现需将曝光时间缩短至1min，保持曝光量不变，应调整管电流为：

A.10mA

B.15mA

C.20mA

D.25mA

8.磁粉检测用磁悬液的浓度检测应采用：

A.梨形沉淀管

B.密度计

C.粘度计

D.照度计

9.渗透检测中，显像时间不足会导致：

A.缺陷显示过淡

B.背景污染严重

C.渗透剂残留

D.缺陷显示拖尾

10.超声检测中，若探头晶片尺寸为12mm×12mm，频率为5MHz，钢中纵波声速为5960m/s，则近场长度N为：

A.12.1mm

B.24.3mm

C.36.5mm

D.48.7mm

11.数字射线检测的图像分辨率通常用（）表示，其单位为（）：

A.像素尺寸，微米（μm）

B.线对/毫米（LP/mm）

C.灰度级，比特（bit）

D.动态范围，分贝（dB）

12.涡流检测中，趋肤深度δ的计算公式为δ=503√(ρ/μrf)，其中ρ的单位是（），f的单位是（）：

A.欧姆·米（Ω·m），赫兹（Hz）

B.微欧·厘米（μΩ·cm），千赫兹（kHz）

C.欧姆·厘米（Ω·cm），兆赫兹（MHz）

D.西门子/米（S/m），赫兹（Hz）

13.磁粉检测中，采用交流电磁化时，对表面下3mm的缺陷检测灵敏度较低，主要原因是：

A.交流磁场的趋肤效应

B.直流磁场的渗透深度不足

C.剩磁强度较低

D.磁粉流动性差

14.超声检测中，使用双晶直探头检测薄板时，两晶片的夹角设计主要考虑：

A.减少底面回波干扰

B.提高近表面分辨率

C.增大声束覆盖范围

D.降低耦合损耗

15.根据ISO17636-2:2022《焊缝的射线检测第2部分：数字探测器技术》，数字射线图像的黑度（亮度）应调整至满足：

A.缺陷区域与背景的对比度≥3%

B.图像灰度级≥12bit

C.像质计丝径可见性≥2丝

D.动态范围≥40dB

16.渗透检测中，若被检件表面存在油污，未彻底清洗直接渗透，最可能导致的问题是：

A.渗透剂无法渗入缺陷

B.显像剂无法吸附渗透剂

C.缺陷显示颜色失真

D.背景污染严重

17.涡流检测中，检测线圈的阻抗变化主要由（）引起：

A.试件电导率、磁导率和几何形状

B.探头提离距离和激励频率

C.试件表面粗糙度和温度

D.以上均是

18.超声检测中，用CSK-ⅢA试块校准灵敏度时，若试块上φ1×6横通孔的反射波高为80%，则对应焊缝中φ1×6横通孔的检测灵敏度为：

A.距离-波幅曲线（DAC）的80%线

B.定量线（SL）

C.判废线（RL）

D.评定线（EL）

19.射线检测中，使用Ir-192源检测厚度50mm的钢焊缝