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基于国产ATE的电机驱动芯片测试系统的研究与实现.pdf

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    摘要

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    近年来，随着我国集成电路产业的快速发展，芯片的集成度和功能性不断提升，

    给集成电路测试带来了新的挑战。如何在确保精准测试的同时提高测试效率，已

    成为众多芯片厂商迫切解决的难题。

    本文基于国产自动化测试设备ATE(AutomaticTestEquipment)，对电机驱动芯

    片的测试系统进行了深入的研究与实践，研究选用了华峰测控的STS8200测试机，

    并结合长川科技的C9D120重力式分选机，构建完整的

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