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2026年无损检测技术员技能考试题集含答案
一、单选题(共20题,每题2分)
1.在射线检测中,当使用标准透剂量片(如RT-1)进行灵敏度鉴定时,若透剂量片能被透过,则表明()。
A.透剂量片灵敏度不足
B.透剂量片灵敏度足够
C.透剂量片已失效
D.无法判断
2.超声波检测中,直探头检测焊缝时,若发现反射波幅值较低,可能的原因是()。
A.探头与工件耦合良好
B.探头频率过高
C.探头频率过低
D.探头型号不匹配
3.磁粉检测中,当工件表面存在微小裂纹时,磁粉会聚集在裂纹处形成()。
A.线状缺陷
B.点状缺陷
C.面状缺陷
D.网状缺陷
4.渗透检测中,若工件表面存在开口缺陷,在清洗后施加渗透剂时,渗透剂会()。
A.无法进入缺陷
B.部分进入缺陷
C.完全进入缺陷
D.被表面吸附
5.涡流检测中,当探头靠近导电材料时,若发现阻抗圆向电阻性增大方向移动,可能的原因是()。
A.材料导电性增强
B.材料导电性减弱
C.探头频率过高
D.探头频率过低
6.射线检测中,当使用胶片进行检测时,若发现胶片感光不均,可能的原因是()。
A.曝光时间不足
B.曝光时间过长
C.胶片类型不匹配
D.曝光距离不当
7.超声波检测中,当探头与工件耦合不良时,显示屏幕上可能出现()。
A.平坦的基线
B.高幅值的反射波
C.严重的波形失真
D.无反射波
8.磁粉检测中,当工件表面存在非磁性缺陷时,磁粉()。
A.会聚集在缺陷处
B.不会聚集在缺陷处
C.部分聚集在缺陷处
D.无法判断
9.渗透检测中,若工件表面存在非开口缺陷,在清洗后施加渗透剂时,渗透剂()。
A.无法进入缺陷
B.部分进入缺陷
C.完全进入缺陷
D.被表面吸附
10.涡流检测中,当探头靠近导电材料时,若发现阻抗圆向电感性增大方向移动,可能的原因是()。
A.材料导电性增强
B.材料导电性减弱
C.探头频率过高
D.探头频率过低
11.射线检测中,当使用胶片进行检测时,若发现胶片密度过高,可能的原因是()。
A.曝光时间不足
B.曝光时间过长
C.胶片类型不匹配
D.曝光距离不当
12.超声波检测中,当探头与工件耦合良好时,显示屏幕上可能出现()。
A.平坦的基线
B.高幅值的反射波
C.严重的波形失真
D.无反射波
13.磁粉检测中,当工件表面存在磁性缺陷时,磁粉()。
A.会聚集在缺陷处
B.不会聚集在缺陷处
C.部分聚集在缺陷处
D.无法判断
14.渗透检测中,若工件表面存在开口缺陷,在清洗后施加渗透剂时,渗透剂会()。
A.无法进入缺陷
B.部分进入缺陷
C.完全进入缺陷
D.被表面吸附
15.涡流检测中,当探头靠近导电材料时,若发现阻抗圆向电感性减小方向移动,可能的原因是()。
A.材料导电性增强
B.材料导电性减弱
C.探头频率过高
D.探头频率过低
16.射线检测中,当使用胶片进行检测时,若发现胶片密度过低,可能的原因是()。
A.曝光时间不足
B.曝光时间过长
C.胶片类型不匹配
D.曝光距离不当
17.超声波检测中,当探头与工件耦合良好时,显示屏幕上可能出现()。
A.平坦的基线
B.高幅值的反射波
C.严重的波形失真
D.无反射波
18.磁粉检测中,当工件表面存在非磁性缺陷时,磁粉()。
A.会聚集在缺陷处
B.不会聚集在缺陷处
C.部分聚集在缺陷处
D.无法判断
19.渗透检测中,若工件表面存在非开口缺陷,在清洗后施加渗透剂时,渗透剂()。
A.无法进入缺陷
B.部分进入缺陷
C.完全进入缺陷
D.被表面吸附
20.涡流检测中,当探头靠近导电材料时,若发现阻抗圆向电阻性减小方向移动,可能的原因是()。
A.材料导电性增强
B.材料导电性减弱
C.探头频率过高
D.探头频率过低
二、多选题(共10题,每题3分)
1.射线检测中,影响胶片感光度的因素包括()。
A.曝光时间
B.曝光距离
C.胶片类型
D.材料厚度
E.环境温度
2.超声波检测中,影响探头耦合效果的因素包括()。
A.探头与工件接触面粗糙度
B.探头频率
C.耦合剂类型
D.探头角度
E.工件温度
3.磁粉检测中,影响缺陷显示效果的因素包括()。
A.磁场强度
B.磁粉类型
C.清洗质量
D.渗透剂施加时间
E.工件材质
4.渗透检测中,影响渗透剂渗透效果的因素包括()。
A.清洗质量
B.渗透剂类型
C.渗透剂施加时间
D.工件温度
E.表面粗糙度
5.涡流检测中,影响探头检测灵敏度的因素包括()。
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