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深度解析(2026)《GBT 45722-2025半导体器件 恒流电迁移试验》.pptxVIP

深度解析(2026)《GBT 45722-2025半导体器件 恒流电迁移试验》.pptx

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    《GB/T45722-2025半导体器件恒流电迁移试验》(2026年)深度解析

    目录一电迁移失效频发？GB/T45722-2025为半导体可靠性筑牢第一道防线（专家视角）二从试验原理到执行细节：GB/T45722-2025恒流电迁移试验核心要素全拆解三试样怎么选？环境咋控制？GB/T45722-2025试验条件设定的科学逻辑四数据精准度是关键！GB/T45722-2025检测仪器与测量方法的严格规范五失效判据如何界定？GB/T45722-2025为半导体电迁移失效提供权威依据六从记录到分析再到报告：GB/T45722-202

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