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ATE测试仿真中的测试数据压缩与管理

测试数据压缩的重要性

在自动测试设备（ATE）测试仿真中，测试数据的生成和管理是一个关键环节。随着集成电路（IC）的复杂度不断增加，测试数据的量也呈指数级增长。这不仅增加了测试时间，还提高了测试成本。因此，测试数据压缩技术变得尤为重要。通过压缩测试数据，可以显著减少存储空间、降低测试时间、提高测试效率并减少测试成本。

压缩技术的基本原理

测试数据压缩技术主要基于数据的冗余性和可预测性。常见的压缩方法包括：

基于时序的压缩：利用测试数据中的时序特性进行压缩。

基于模式的压缩：通过识别和重复测试模式来减少数据量。

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