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基于飞行检校场的非量测型数码相机检校研究

一、引言

随着科技的飞速发展，非量测型数码相机凭借其成本低、操作便捷、成像质量较好等优势，在航空摄影测量、遥感监测、文物保护等众多领域得到了广泛应用。然而，非量测型数码相机没有经过严格的出厂检校，其内部参数存在较大误差，这会直接影响后续的测量精度和数据处理结果。因此，对非量测型数码相机进行精确检校至关重要。

飞行检校场作为一种重要的检校手段，为非量测型数码相机的检校提供了良好的环境和条件。本文将围绕基于飞行检校场的非量测型数码相机检校展开深入研究，旨在探索更高效、精确的检校方法，提高非量测型数码相机在实际应用中的测量精度。

二、非量测型数码相机检校现状