非球面环形子孔径拼接干涉测试方法：原理、应用与挑战解析.docx

下载文档

0
0
约3.46万字
约 39页
2025-12-31 发布于上海
举报
版权申诉
保障服务

非球面环形子孔径拼接干涉测试方法：原理、应用与挑战解析.docx

1、本文档内容版权归属内容提供方，所产生的收益全部归内容提供方所有。如果您对本文有版权争议，可选择认领，认领后既往收益都归您。。
2、本文档由用户上传，本站不保证质量和数量令人满意，可能有诸多瑕疵，付费之前，请仔细先通过免费阅读内容等途径辨别内容交易风险。如存在严重挂羊头卖狗肉之情形，可联系本站下载客服投诉处理。
3、文档侵权举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。

非球面环形子孔径拼接干涉测试方法：原理、应用与挑战解析

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代光学系统中，非球面光学元件正发挥着愈发关键的作用，其应用领域极为广泛，涵盖了航空航天、天文观测、医疗成像、高端摄影以及精密仪器制造等众多前沿与民生领域。在航空航天领域，非球面光学元件被大量应用于卫星和太空探测器的光学系统中，凭借其独特的光学性能，能够在减轻系统重量的同时，显著提升成像的精度与稳定性，从而满足对遥远天体或地面目标进行高分辨率观测的严苛需求。以天文观测为例，大型望远镜的关键光学部件常常采用非球面设计，这有助于收集更微弱的光线，捕捉到宇宙深处更为遥远和神秘的天体信息，为天文学研究开辟新的