模拟集成电路参数测试 (2).doc

题目:

模拟集成电路参数测试

毕业设计说明书中文摘要

摘要：随着大规模集成电路的发展，集成电路测试应运而生。集成电路测试是对集成电路或模块进行检测，通过测量对于集成电路的输出回应和预期输出比较，以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程，是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效以及指导应用的重要手段。被测电路DUT(DeviceUnderTest)可作为一个已知功能的实体，测试依据原始输入X和网络功能集F(X)，确定原始输出回应Y，并分析Y是否表达了电路网络的实际输出。因此，测试的基本任务是生成测试输入，而测试系统的基本任务则是将测试输人应用于被测器件，并分析其输出的正确性。