蓝宝石基片上Tl - 2212高温超导薄膜制备技术及性能研究.docxVIP

  • 0
  • 0
  • 约2.17万字
  • 约 25页
  • 2026-01-05 发布于上海
  • 举报

蓝宝石基片上Tl - 2212高温超导薄膜制备技术及性能研究.docx

蓝宝石基片上Tl-2212高温超导薄膜制备技术及性能研究

一、引言

1.1研究背景与意义

自从高温超导体被发现以来,高温超导薄膜在超导电子学领域展现出了巨大的应用潜力,其应用范围涵盖了滤波器、THz天线、红外探测器以及电力传输、磁悬浮列车、核磁共振成像等多个重要领域。在众多制备超导薄膜的衬底材料中,蓝宝石基片因其具备优良的微波性能、高硬度、高化学稳定性以及与多种超导材料较好的晶格匹配性等优势,受到了广泛关注。

蓝宝石(\alpha-Al?O?)属于六方晶系,具有高度有序的原子排列,这赋予了它极高的机械稳定性,能够在各种苛刻环境下保持性能稳定,为超导薄膜的生长提供了一个稳定的基底环境,减少了缺陷的产生。同时,蓝宝石还具有高透光率,尤其是在紫外到红外波段的光学透过性能极佳,这一特性在一些光电器件与超导薄膜结合的应用中,确保了光子能量的高效传输和低损耗。其优异的热导率与热稳定性,在高功率应用场景中,能够有效散热并防止因温度变化导致的性能下降。

Tl-2212(Tl?Ba?CaCu?O?)超导薄膜具有较高的临界温度(T_c可达110K)、较高的临界电流密度以及较强的抗潮湿能力等优点,是开发高性能高温超导电子器件的重要材料。在蓝宝石基片上制备Tl-2212高温超导薄膜,有望结合两者的优势,进一步提升超导器件的性能,为超导电子学的发展提供更有力的支持。例如,在微波器件应用中,常常要求薄膜的厚度大于磁场穿透深度的2倍才能有效地降低微波损耗,对于Tl-2212薄膜来说,一般认为其磁场穿透深度值为210-300nm(77K),因此制备具有良好电学性能、厚度大于420nm无裂纹的Tl-2212超导薄膜成为研究重点之一。然而,在蓝宝石上制备较厚的无裂纹Tl-2212超导薄膜存在诸多困难,薄膜在高温热处理过程中容易出现裂纹,导致超导薄膜的特性急剧降低。所以,深入研究在蓝宝石基片上制备Tl-2212高温超导薄膜的工艺和性能,对于推动高温超导薄膜的实际应用具有重要的理论和现实意义。

1.2国内外研究现状

在国外,对于在蓝宝石基片上制备Tl-2212薄膜的研究开展较早,并且取得了一系列成果。在制备技术方面,采用了多种方法,如磁控溅射、脉冲激光沉积、Aerosol、MOCVD、Sol-gel等。在工艺探索上,对先驱膜的铊化处理温度、时间等参数进行了大量研究,通常采用860-880℃进行先驱膜的铊化处理。一些研究通过改变工艺参数,成功制备出了不同厚度的Tl-2212薄膜,并对其性能进行了表征。研究发现随着薄膜厚度的增加,其表面形貌会发生变化,从致密平整的结构演化为片状晶体结构,同时临界转变温度T_c和临界电流密度J_c先增大后减小,微波表面电阻R_s先减小后增大。

国内的研究人员也在该领域进行了深入探索。一方面,借鉴国外先进的制备技术和方法,结合国内实际情况进行优化和改进;另一方面,开展了具有创新性的研究工作。通过对蓝宝石基片进行预处理,如在1000℃×20h条件下退火,改善了基片表面的晶体结构和性能,从而在其上制作出了具有致密的晶体结构、高度c轴取向的外延Tl-2212超导薄膜,该薄膜具有优良的电学性能。还有研究通过改变CeO?缓冲层的厚度(30-500nm)来探索对Tl-2212薄膜生长的影响,发现随着CeO?缓冲层厚度的变化,所制备的Tl-2212薄膜的最大无裂纹厚度和超导性能也会发生相应改变。

然而,当前研究仍然存在一些不足之处。传统的烧结工艺受先驱膜的沉积方法、铊源陪烧靶的起始材料的粉体颗粒大小及其制备方法的影响很大,更换原材料的厂家、以及先驱膜的沉积方法,就必须花费大量时间重新探索其制备工艺。在制备较厚的无裂纹Tl-2212超导薄膜方面,虽然取得了一定进展,但目前所制备的薄膜最大无裂纹厚度仍然有限,难以满足一些对薄膜厚度要求较高的应用场景。对于CeO?缓冲层的后退火以及先驱膜的较低温度后退火对不同厚度Tl-2212薄膜的形貌及超导特性的影响还缺乏系统深入的研究。

1.3研究内容与创新点

本研究主要内容包括:采用合适的制备方法,如直流磁控溅射法和后退火技术,在蓝宝石基片上制备Tl-2212高温超导薄膜;对制备的薄膜进行全面的性能表征,包括表面形貌、晶体结构、临界转变温度T_c、临界电流密度J_c、微波表面电阻R_s等;系统分析影响薄膜性能的因素,如薄膜厚度、基片预处理方式、缓冲层厚度及后退火工艺、先驱膜的后退火温度和时间等。

本研究的创新点在于:一是在工艺方面,提出了一种新的三段升温烧结工艺,通过优化不同温区的升温速度,避免了薄膜裂纹的产生,克服了传统低速升温烧结工艺受先驱膜的沉积方法、铊源陪烧靶的起始材料的粉体颗粒大小影响的问题,有

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档