（集成电路设计与集成系统）测试技术试题及答案.docVIP

2025年（集成电路设计与集成系统）测试技术试题及答案

第I卷（选择题共40分）

答题要求：请将正确答案的序号填在括号内。

1.集成电路测试的主要目的不包括（）

A.验证设计功能B.检测制造缺陷C.提高芯片速度D.评估芯片性能

答案：C

2.以下哪种测试方法不属于功能测试（）

A.黑盒测试B.白盒测试C.灰盒测试D.边界扫描测试

答案：D

3.集成电路制造过程中可能产生的缺陷类型不包括（）

A.开路B.短路C.漏电D.逻辑错误

答案：D

4.用于检测集成电路内部逻辑功能是否正确的测试是（）

A.直流参数测试B.交流参数测试C.功能测试D.可靠性测试

答案：C

5.边界扫描测试主要用于（）

A.芯片内部功能验证B.芯片引脚连接检测C.芯片性能评估D.芯片功耗测试

答案：B

6.集成电路测试流程中，首先进行的是（）

A.测试计划制定B.测试向量生成C.测试执行D.测试结果分析

答案：A

7.以下哪种测试仪器常用于集成电路的直流参数测试（）

A.示波器B.频谱分析仪C.万用表D.逻辑分析仪

答案：C

8.功能测试中，基于电路功能描述进行测试的方法是（）

A.黑盒测试B.白盒测试