深度解析(2026)《GBT 42676-2023半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法》.pptxVIP

深度解析(2026)《GBT 42676-2023半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法》.pptx

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目录

一以专家视角深度剖析X射线衍射法为何成为评判半导体单晶晶片质量的无冕之王与基石性标准

二全面解构GB/T42676-2023的核心框架与创新要点:从理论根基到标准操作程序的系统性跃迁

三精准测量第一步:标准深度解读样品制备仪器校准与实验环境控制的“魔鬼细节”与关键影响

四衍射曲线奥秘解析:如何从摇摆曲线与回摆曲线的形态中精准捕捉晶体缺陷与应力信息

五晶体取向与晶格常数测定的权威指南:标准方法如何实现纳米级精度与跨实验室数据可比性

六深度聚焦位错层错与镶嵌结构评估:X射线衍射技术表征晶体不完整性的能力边界与最新实践

七薄膜与外延层质量评价专题:标准如何指导界面质量应变状态

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