CMOS像素技术驱动BES-Ⅲ内层径迹探测器革新:北京正负电子对撞机Ⅱ关键突破.docx

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CMOS像素技术驱动BES-Ⅲ内层径迹探测器革新:北京正负电子对撞机Ⅱ关键突破

一、引言

1.1研究背景

北京正负电子对撞机Ⅱ(BEPCII)作为我国高能物理领域的关键科研设施,在探索微观世界奥秘、推动基础科学发展等方面发挥着至关重要的作用。BEPCII通过加速正负电子并使其对撞,为科学家们提供了研究物质基本结构和相互作用的极端环境。在这个过程中,产生的各种粒子携带着丰富的物理信息,而BES-Ⅲ谱仪则肩负着精确探测和记录这些粒子的重任。

BES-Ⅲ谱仪是BEPCII的核心探测器系统,其性能的优劣直接影响到实验数据的质量和物理研究的深度。它如同一个精密的“粒子显微镜”,能够对正

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