CN116416190B 瑕疵检测方法及装置、电子设备及存储介质 （鸿海精密工业股份有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利

(10)授权公告号CN116416190B(45)授权公告日2025.07.01

(21)申请号202111663831.3

(22)申请日2021.12.31

(65)同一申请的已公布的文献号申请公布号CN116416190A

(43)申请公布日2023.07.11

(73)专利权人鸿海精密工业股份有限公司

地址中国台湾新北市土城区中山路66号

(72)发明人卢志德郭锦斌李宛真

(74)专利代理机构深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司44334

专利代理师彭辉剑

(51)Int.CI.

GO6T7/00(2017.01)

GO6T7/90(2017.01)

GO6T7/62(2017.01)

G06T5/40(2006.01)

G06T5/50(2006.01)

(56)对比文件

CN

CN

110766683

111709894

A,2020.02.07

A,2020.09.25

审查员史珂

权利要求书3页说明书13页附图4页

(54)发明名称

瑕疵检测方法及装置、电子设备及存储介质

(57)摘要

CN116416190B本申请涉及图像处理，提供一种瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质。所述方法获取多张正样本图像、多张负样本图像以及测试样本图像，基于测试样本图像中的像素点及多张正样本图像中的像素点，得到像素差值，根据多张正样本图像生成色差阈值，根据所述色差阈值及所述像素差值生成所述测试样本图像的多个特征连通区域，根据多张正样本图像的图像噪声生成第一阈值，根据每个特征连通区域中像素点的数量及所述第一阈值，从多个特征连通区域中筛选目标区域，根据所述多张负样本图像的瑕疵像素点生成第二阈值，根据目标区域中所有像素点的面

CN116416190B

性。

S10

S10

获取多张正样本图像、多张负样本图像以及测试样本图像

基于所述测试样本图像中的像素点，确定在所述多张正样本图像中对应的像素点以及相应的像素差值

S12

根据所述多张正样本图像生成色差阈值

S13

根据所述色差阀值及所述像素差值生成所述测试样本图像的多个特征连通区域

根据所述多张正样本图像的图像噪声生成第一阈值

根据每个特征连通区域中像素点的数量及所述第一阈值，从所述多个特征连通区域中筛选目标区域

根据所述多张负样本图像的瑕疵像素点生成第二阅值

根据所述目标区域的面积及所述第二阀值，确定所述测试样本图像对应的测试样本的检测结果

CN116416190B权利要求书1/3页

2

1.一种瑕疵检测方法，其特征在于，所述瑕疵检测方法包括：

获取多张正样本图像、多张负样本图像以及测试样本图像；

基于所述测试样本图像中的像素点，确定在所述多张正样本图像中对应的像素点以及相应的像素差值；

根据所述多张正样本图像生成色差阈值；

根据所述色差阈值及所述像素差值生成所述测试样本图像的多个特征连通区域；

根据所述多张正样本图像的图像噪声生成第一阈值；

根据每个特征连通区域中像素点的数量及所述第一阈值，从所述多个特征连通区域中筛选目标区域；

根据所述多张负样本图像的瑕疵像素点生成第二阈值；

根据所述目标区域的面积及所述第二阈值，确定所述测试样本图像对应的测试样本的检测结果。

2.如权利要求1所述的瑕疵检测方法，其特征在于，所述根据所述多张正样本图像生成色差阈值包括：

将任意两张正样本图像中对应的像素点的像素值进行相减运算处理，得到色差值；

统计所述多张正样本图像中具有相同色差值的像素点数量；

将所述色差值作为横坐标，及将所述色差值对应的像素点数量作为纵坐标生成色差直方图；

根据预设值从所述色差直方图的坐标值中选取多个连续色差值，并将相互连续的连续色差值确定为同一集合，得到多个特征集合；

统计每个特征集合中的元素数量；

将所述元素数量最多的特征集合确定为目标色差值集合；

从所述目标色差值集合中筛选出最大色差值作为所述色差阈值。

3.如权利要求2所述的瑕疵检测方法，其特征在于，所述根据所述多张正样本图像的图像噪声生成第一阈值包括：

将除所述目标色差值集合外的特征集合确定为多个背景色差值集合；

从所述多张正样本图像中筛选与所述多个背景色差值集合中的色差值对应的像素点作为噪声像素点；

根据相邻的噪声像素点生成多个第一连通区域；

统计每个第一连通区域中噪声像素点的数量，得到所述图像噪声；

筛选