GB/T 4937.29-2025半导体器件　机械和气候试验方法　第29部分：闩锁试验.pdf

ICS31.080.01

CCSL40

中华人民共和国国家标准

/—/:

GBT4937.292025IEC60749-292011

半导体器件机械和气候试验方法

:

第部分闩锁试验

29

——

SemiconductordevicesMechanicalandclimatictestmethods

:

Part29Latch-utest

p

(:,)

IEC60749-292011IDT

2025-12-02发布2026-07-01实施

国家市场监督管理总局

发布

国家标准化管理委员会

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GBT4937.292025IEC60749-292011

目次

前言…………………………Ⅲ

引言…………………………Ⅴ

1范围………………………1

2规范性引用文件…………………………1

3术语和定义………………1

4分类和等级………………4

4.1分类…………………4

4.2等级…………………4

5设备和材料………………4

5.1闩锁试验设备………………………4

自动测试设备()………………

5.2ATE5

5.3加热源………………6

6程序………………………6

6.1闩锁试验程序通则…………………6

6.2详细步骤……………9

7失效判据…………………13

8说明…………