CN120236639A 固态硬盘性能波动测试方法、装置、设备及存储介质 （苏州元脑智能科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120236639A(43)申请公布日2025.07.01

(21)申请号202510712897.9

(22)申请日2025.05.29

(71)申请人苏州元脑智能科技有限公司

地址215000江苏省苏州市吴中经济开发

区综保区经一路1号8幢

(72)发明人靳嘉晖姜伟丽刘方健

(74)专利代理机构北京开阳星知识产权代理有限公司11710

专利代理师唐博

(51)Int.CI.

G11C29/08(2006.01)

GO6F11/26(2006.01)

权利要求书3页说明书12页附图3页

(54)发明名称

根据性能测试指令，生成性能测试指令对应的测试动作序列调用测试工具对待测试固态硬盘执行所述测试动作序列获取测试动作序列执行过程中，

根据性能测试指令，生成性能测试指令对应的测试动作序列

调用测试工具对待测试固态硬盘执行所述测试动作序列

获取测试动作序列执行过程中，待测试固态硬盘的存储性能指标

基于存储性能指标的变化量，

计算得到待测试固态硬盘的性能波动测试结果

S101

S102

S103

S104

(57)摘要

CN120236639A本申请公开了一种固态硬盘性能波动测试方法、装置、设备及存储介质，涉及性能测试技术领域，通过根据性能测试指令生成相应的测试动作序列，将多个测试动作组织成可重复执行的标准化测试流程，消除人工执行测试操作的差异对测试结果的影响，并基于测试动作序列执行过程中待测试固态硬盘的存储性能指标计算待测试固态硬盘的性能波动测试结果，在有充分数据支持的基础上实现固态硬盘性能波动的客观评估，

CN120236639A

CN120236639A权利要求书1/3页

2

1.一种固态硬盘性能波动测试方法，其特征在于，包括：

根据性能测试指令，生成所述性能测试指令对应的测试动作序列；

调用测试工具对待测试固态硬盘执行所述测试动作序列；

获取所述测试动作序列执行过程中，所述待测试固态硬盘的存储性能指标；

基于所述存储性能指标的变化量，计算得到所述待测试固态硬盘的性能波动测试结果。

2.根据权利要求1所述的固态硬盘性能波动测试方法，其特征在于，所述根据性能测试指令，生成所述性能测试指令对应的测试动作序列，包括：

确定所述性能测试指令对应的性能测试类型以及性能测试需求；

根据所述性能测试类型，确定所述性能测试指令对应的目标序列模板；

根据所述性能测试需求，对所述目标序列模板中的测试动作和/或动作参数进行调整，得到所述性能测试指令对应的测试动作序列。

3.根据权利要求1所述的固态硬盘性能波动测试方法，其特征在于，当所述性能测试指令为读干扰测试指令时，所述调用测试工具对待测试固态硬盘执行所述测试动作序列，包

括：

对所述待测试固态硬盘进行低级格式化；

基于顺序写数据操作对所述待测试固态硬盘进行数据写入，直到所述待测试固态硬盘达到满载状态；

在第一预设时间段内持续对所述满载状态的待测试固态硬盘进行顺序读数据操作；

在第二预设时间段内持续对所述满载状态的待测试固态硬盘进行随机读数据操作。

4.根据权利要求3所述的固态硬盘性能波动测试方法，其特征在于，所述存储性能指标包括数据读取带宽、数据读写效率；所述性能波动测试结果包括带宽波动测试结果和读写效率波动测试结果；

所述基于所述存储性能指标的变化量，计算得到所述待测试固态硬盘的性能波动测试结果，包括：

计算第二数据读取带宽相对于第一数据读取带宽的降幅，得到所述读干扰测试指令对应的带宽波动测试结果，所述第一数据读取带宽为所述待测试固态硬盘在所述第一预设时间段起始时刻的数据读取带宽，所述第二数据读取带宽为所述待测试固态硬盘在所述第一预设时间段结束时刻的数据读取带宽；

计算第二数据读写效率相对于第一数据读写效率的降幅，得到所述读干扰测试指令对应的读写效率波动测试结果，所述第一数据读写效率为所述待测试固态硬盘在所述第二预设时间段起始时刻的数据读写效率，所述第二数据读写效率为所述待测试固态硬盘在所述第二预设时间段结束时刻的数据读写效率。

5.根据权利要求1所述的固态硬盘性能波动测试方法，其特征在于，当所述性能测试指令为数据保持能力测试指令时，所述调用测试工具对待测试固态硬盘执行所述测试动作序列，包括：

对所述待测试固态硬盘进行低级格式化；

基于顺序写数据操作对所述待测试固态硬盘进行数据写入，直到所述待测