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电子器件仿真：双极型晶体管仿真_（8）.噪声分析.docx

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    噪声分析

    噪声的定义与分类

    噪声是电子器件仿真中一个重要的研究对象。在双极型晶体管（BipolarJunctionTransistor,BJT）仿真中，噪声可以定义为电路中不希望出现的随机信号，这些信号会干扰或降低电路的性能。噪声可以分为多种类型，主要包括：

    热噪声（ThermalNoise）：由于导体中自由电子的随机热运动产生的噪声。热噪声的功率谱密度与温度和带宽成正比，通常在电阻和晶体管的基极-发射极结中出现。

    散粒噪声（ShotNoise）：由于载流子（电子或空穴）的随机通过势垒产生的噪声。散粒噪声的功率谱密度与电流成正比，主要出现在二极

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