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系统芯片外建自测试技术：原理、创新与应用

一、引言

1.1研究背景与意义

在现代信息技术飞速发展的浪潮中，芯片作为各类电子设备的核心部件，其集成度正以惊人的速度不断提高。从早期简单的集成电路到如今高度复杂的系统芯片（SoC），芯片内部能够容纳的晶体管数量呈指数级增长，这使得芯片的功能日益强大和多样化。然而，这种集成度的大幅提升也为芯片测试带来了前所未有的挑战。

随着芯片集成度的提高，其内部电路结构变得极为复杂，包含了多种不同类型的功能模块和海量的晶体管。传统的自动测试设备（ATE）在面对大规模集成电路测试时，逐渐暴露出诸多局限性。ATE的存储量有限，难以存储日益庞大的测试数据；其工作频率和